[实用新型]一种自动标记坏点的芯片测试机

说明书

本实用新型公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体、硬质板、自动标记装置和衬板，芯片测试机主体上侧的侧壁开设有安装槽，安装槽的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆，安装槽下侧的槽壁固定连接有微型电机，微型电机的输出轴与螺纹杆固定连接，硬质板左侧靠近螺纹杆一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板，移动板下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒，螺纹筒螺纹套设于螺纹杆外，硬质板右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板。本实用新型较好的提高了测试机的适用范围，有利于测试机的推广，较好的提高了装置的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种自动标记坏点的芯片测试机。

背景技术

芯片是一种把电路小型化后固定在在半导体晶圆表面上的集成电路，芯片生产完成后需要使用芯片测试机对芯片进行检测，检测芯片是否存在坏点，以保证芯片的质量。

经检索，中国专利授权号为CN206272458U的专利，公开了一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机，自动标记装置和固定装置，自动标记装置可以根据所述芯片测试机的检测结果对芯片上的坏点进行标记,固定装置包括硬质板，硬质板固定在所述芯片测试机上，自动标记装置固定于所述硬质板上,自动标记装置通过所述芯片测试机顶部的开口对放置于芯片测试机中的待测芯片的坏点进行标记。上述专利中的一种自动标记坏点的芯片测试机存在以下不足：上述测试机的自动标记装置的位置是固定的，不能够根据不同规格的芯片进行位置调整，适用范围较小，不利于测试机的推广。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中自动标记装置不能够根据不同规格的芯片进行位置调整，适用范围较小，不利于测试机的推广的问题，而提出的一种自动标记坏点的芯片测试机。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种自动标记坏点的芯片测试机，包括芯片测试机主体、硬质板、自动标记装置和衬板，所述芯片测试机主体上侧的侧壁开设有安装槽，所述安装槽的上侧的槽壁通过轴承转动连接有螺纹杆，所述安装槽下侧的槽壁固定连接有微型电机，所述微型电机的输出轴与螺纹杆固定连接，所述硬质板左侧靠近螺纹杆一侧的侧壁通过第一减震装置固定连接有移动板，所述移动板下侧的侧壁开设有通孔，且通孔内固定连接有螺纹筒，所述螺纹筒螺纹套设于螺纹杆外，所述硬质板右侧的侧壁通过第二减震装置固定连接有导向板，所述安装槽上下两侧的槽壁之间固定连接有同一根导向杆，所述导向板上侧的侧壁开设有导向孔，所述导向杆通过导向孔贯穿导向板，所述导向孔的孔壁与导向杆的杆壁滑动连接。

优选的，所述第一减震装置与第二减震装置的结构相同，所述第一减震装置包括开设在硬质板侧壁的滑动槽，所述滑动槽内滑动连接有减震杆，所述减震杆的一端与移动板固定连接，所述减震杆与滑动槽的槽底之间固定连接有同一根减震弹簧。

优选的，所述导向孔的孔壁对称固定连接有两个滑块，所述导向杆的杆壁开设有与滑块相匹配的滑槽。

优选的，所述滑动槽相对一侧的槽壁均固定连接有限位滑块，所述减震杆的杆壁开设有与限位滑块相匹配的限位滑槽。

优选的，所述减震杆与滑动槽的槽底之间固定连接有同一根伸缩杆，所述减震弹簧活动套设于伸缩杆外。

优选的，所述减震杆的具体材质为铝。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种自动标记坏点的芯片测试机，具备以下有益效果：

1、该自动标记坏点的芯片测试机，通过设置的芯片测试机主体、硬质板、安装槽、螺纹杆、微型电机、移动板、螺纹筒、导向板、导向杆和导向孔，使用时，控制微型电机转动，微型电机带动螺纹杆转动，通过螺纹杆与螺纹筒之间的螺纹配合，使螺纹筒移动，螺纹筒带动移动板移动，移动板带动硬质板移动，硬质板带动自动标记装置移动，从而对自动标记装置的位置进行调整，较好的提高了测试机的适用范围，有利于测试机的推广。