[实用新型]超声波探头性能高集成检测试块

说明书

本实用新型提供一种超声波探头性能高集成检测试块，包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体，所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径，所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径。本实用新型由于将第一扇体、第二扇体和第三扇体设置成为半圆柱状扇体，因此能够快速进行纵波直探头、横波斜探头及纵波小角度探头声轴偏斜角的测定，由于在平面及端面上有刻线，且第一扇体、第三扇体的半径为第二扇体半径的2倍左右，因此能够快速进行凹面和平面斜探头入射点、前沿长度的测定，利用圆弧可以检测探头的脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽。

技术领域

本实用新型涉及一种机车车辆零部件无损检测用具，尤其是一种超声波探头性能高集成检测试块，属于无损检测技术领域。

背景技术

国内外通常采用IIW1、IIW2、CSK-ⅠA、DB-H1、DB-H2等标准试块对常规横波探头及纵波探头进行性能测试,测试的内容包括入射点、前沿长度、声轴偏斜角等指标。然而，脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽等性能需借助专用试块进行检测。针对凹面斜探头等特殊探头的性能测试，也无较适用的标准试块。

针对纵波直探头声轴偏斜角的检测，通常选用横孔作为反射体，而其他性能的测试需依靠其他反射体，固需使用多种试块对其综合性能进行评价，测试成本较高，且效率较低。国内外尚无针对探头主要性能指标测试的高集成化便携试块。

实用新型内容

本实用新型针对上述提出的技术问题，提出一种超声波探头性能高集成检测试块，通过对测试块的结构改进，能够快速准确地测试出各类型探头的脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽，以及凹面斜探头、平面斜探头的入射点和前沿长度及纵波直探头、横波斜探头、纵波小角度探头的声轴偏斜角的性能。

本实用新型解决以上技术问题的技术方案是:提供一种超声波探头性能高集成检测试块，包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体；

所述第一扇体、第二扇体和第三扇体的圆心在同一直线上；

所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径，所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径；第一扇体的半圆柱半径略小于第三扇体的半圆柱半径，第三扇体的半圆柱半径是第二扇体的半圆柱体的半径的2±0.5倍；

所述第一扇体和第二扇体与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体与圆弧面相对的侧立面为平面。

本实用新型的进一步限定技术方案，前述的超声波探头性能高集成检测试块，所述第一扇体的侧立面上依次设有第一平面、第一凸圆弧面、第二平面以及第二凸圆弧面；所述第一扇体顶端具有第一端面。

前述的超声波探头性能高集成检测试块，所述第二扇体的侧立面上依次设有第三凸圆弧面、第三平面以及第四平面。所述第三扇体的侧立面为第五平面，所述第三扇体顶端为第二端面。

前述的超声波探头性能高集成检测试块，所述第一凸圆弧面、第二凸圆弧面以及第三凸圆弧面的圆弧半径相等；所述第一凸圆弧面、第二凸圆弧面以及第三凸圆弧面的圆弧的圆心处于同一轴线上。

前述的超声波探头性能高集成检测试块，所述第一扇体的第一端面上设有第一端面刻线；所述第三扇体的第二端面上圆心中心处有第二端面刻线。

前述的超声波探头性能高集成检测试块，所述第一扇体的第一平面和第二平面轴线上分别有第一平面刻线和第二平面刻线，第二扇体的第三平面和第四平面的轴线上分别有第三平面刻线和第四平面刻线，第三扇体的第五平面轴线上设有第五平面刻线。