[实用新型]超声波探头性能高集成检测试块

权利要求书

1.超声波探头性能高集成检测试块，包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体（1）、第二扇体（2）和第三扇体（3），其特征在于:

所述第一扇体（1）、第二扇体（2）和第三扇体（3）的圆心在同一直线上，

所述第二扇体（2）的半圆柱体的半径小于所述第一扇体（1）的半圆柱体的半径，所述第一扇体（1）的半圆柱体的半径小于第三扇体（3）的半圆柱体的半径，第三扇体（3）的半圆柱半径是第二扇体（2）的半圆柱体的半径的2±0.5倍；

所述第一扇体（1）和第二扇体（2）与圆弧面相对的侧立面上均具有凸圆弧面和平面；所述第三扇体（3）与圆弧面相对的侧立面为平面。

2.如权利要求1所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一扇体（1）的侧立面上依次设有第一平面（1-1）、第一凸圆弧面（1-2）、第二平面（1-3）以及第二凸圆弧面（1-4）；所述第一扇体（1）顶端具有第一端面（1-5）。

3.如权利要求2所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第二扇体（2）的侧立面上依次设有第三凸圆弧面（2-1）、第三平面（2-2）以及第四平面（2-3）。

4.如权利要求3所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第三扇体（3）的侧立面为第五平面（3-1），所述第三扇体（3）顶端为第二端面（3-2）。

5.如权利要求3所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一凸圆弧面（1-2）、第二凸圆弧面（1-4）以及第三凸圆弧面（2-1）的圆弧半径相等。

6.如权利要求4所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一扇体（1）的第一端面（1-5）上设有第一端面刻线（4-1）；所述第三扇体（3）的第二端面（3-2）上圆心中心处有第二端面刻线（4-2）。

7. 如权利要求6所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于: 所述第一扇体（1）的第一平面（1-1）和第二平面（1-3）轴线上分别有第一平面刻线（5-1）和第二平面刻线（5-2），第二扇体（2）的第三平面（2-2）和第四平面（2-3）的轴线上分别有第三平面刻线（5-3）和第四平面刻线（5-4），第三扇体（3）的第五平面（3-1）轴线上设有第五平面刻线（5-5）。

8.如权利要求3所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一凸圆弧面（1-2）、第二凸圆弧面（1-4）以及第三凸圆弧面（2-1）的圆弧的圆心处于同一轴线上。

9.如权利要求6所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于:所述第一端面刻线（4-1）和第二端面刻线（4-2）的长度均为5mm，刻线深度均为0.3mm。

10. 如权利要求7所述的超声波探头性能高集成检测试块，其特征在于: 所述第一平面刻线（5-1）、第二平面刻线（5-2）、第三平面刻线（5-3）第四平面刻线（5-4）以及第五平面刻线（5-5）的刻线深度为0.1mm～0.15mm，且第一端面刻线（4-1）和第一平面刻线（5-1）相连，第二端面刻线（4-2）与第四平面刻线（5-4）、第五平面刻线（5-5）相连。