[实用新型]一种短路测试的印制电路板有效
申请号: | 201822015284.8 | 申请日: | 2018-12-03 |
公开(公告)号: | CN209280868U | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 梁建;罗雄科 | 申请(专利权)人: | 上海泽丰半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 200233 上海市徐*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电气连接端子 印制电路板 短路 控件 短路测试 测试区 焊盘 测试过程 测试区域 电气连接 印制电路 专用的 损伤 芯片 申请 | ||
本实用新型公开了一种短路测试的印制电路板,包括:印制电路板,在所述印制电路板上设置有测试区;在所述测试区设置有多个电气连接端子;在所述电气连接端子设置一短路控件,多个所述电气连接端子与短路控件形成电气连接。因此在本申请,通过设置一个专用的短路控件,解决了现有技术中由于被测试区域焊盘比较脆弱,fine pitch芯片,测试过程中探针对焊盘的损伤的问题。
技术领域
本实用新型涉及芯片测试领域,尤其涉及一种短路测试的印制电路板。
背景技术
在芯片生产过程中,需要通过测试手段保证芯片的各项功能符合设计要求。而芯片测试又可分成两类测试,第一类是晶元封装前的测试,第二类是晶元封装后的测试。这其中,第一类的测试需要使用探针卡(probe card)进行测试,第二类需要使用载板(loadboard)进行测试。
图1目前比较成熟的垂直探针卡测试结构,图2是成熟载板的结构示意图;结合以上两幅示意图对于以上两种芯片测试板(Loadboard和Probe card),在PCB加工完成以后(贴片前及贴片后),需要检验和测试PCB的基本电气性能,保证PCB可以满足芯片测试的基本要求。这其中最关键的一点就是开关路测试,检验PCB是否存在线路断裂和短路及漏电现象。经常发生的开短路问题如下:走线断裂,过孔断裂,走线与过孔连接处断裂,背钻导致的钻偏位,器件贴装虚焊、短路等。
目前,常用的测试工具是飞针测试仪,测量原理是通过飞线同时测量同一网络的两端,根据电压和电流分析出该网络的电阻,然后根据电阻值确定开短路情况。但存在两个问题。一、由于DUT区域焊盘比较脆弱,对于fine pitch芯片更加明显,测试过程中探针对焊盘的损伤不可忽视;二、测试程序比较复杂,飞针测试的覆盖率偏低。
基于以上存在的技术问题,本申请提供了解决以上技术问题的技术方案。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种短路测试的印制电路板,本申请通过设置一个专用的短路控件,解决了现有技术中由于被测试区域焊盘比较脆弱,fine pitch芯片,测试过程中探针对焊盘的损伤的问题。
本实用新型提供的技术方案如下:
一种短路测试的印制电路板,包括:印制电路板,在所述印制电路板上设置有测试区;在所述测试区设置有多个电气连接端子;在所述电气连接端子设置一短路控件,多个所述电气连接端子与短路控件形成电气连接。
具体的,在本申请中,通过设置一个专用的短路控件,解决了现有技术中由于被测试区域焊盘比较脆弱,fine pitch芯片,测试过程中探针对焊盘的损伤的问题。
进一步优选的,所述短路控件包括:压紧装置,缓冲垫;所述缓冲垫通过导电材料包裹,并设置在多个所述电气连接端子上,将多个所述电气连接端子通过所述导电材料短接在一起;所述压紧装置设置在所述缓冲垫上。
进一步优选的,包括:所述缓冲垫为柔性垫。
进一步优选的,包括:所述压紧装置的尺寸大于待测芯片的尺寸。
具体的,该短路控件中设置用于包裹缓冲垫的导电材料,该导电材料将待测试区域上的焊盘全部短接在一起,为了实现导电材料与焊盘之间良好的接触,因此设置有压紧装置在印制电路板上方;一般压紧装置的材质比较硬,为了保护和缓解焊盘的压力,在压紧装置和焊盘之间还设置了缓冲垫,该缓冲垫通过导弹材料包裹,在本申请中导电材料包括导电铜箔或导电胶布等;缓冲垫一般包括硅胶材料。
进一步优选的,包括:在所述压紧装置上设置有多个通孔,通过所述通孔将所述压紧装置固定在所述印制电路板上。
进一步优选的,包括:多个所述通孔均为腰型孔,并分布在所述压紧装置的四周。
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