[实用新型]一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置

说明书

本实用新型公开了一种在核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置，属于核工业测量设备领域，测量装置包括辐射屏蔽壳体(1)、测量模块(2)、安装壳体(3)和控制处理系统(4)。测量模块(2)安装在安装壳体(3)上，安装壳体(3)安装在辐射屏蔽壳体(1)上。本实用新型主要用于核辐射的环境下，对待测件表面轮廓进行测量。使用上述核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置实现在核辐射环境下对待测件表面轮廓进行高精度的测量，同时该设备具备一定耐辐射能力，结构紧凑，操作简便，适应性和抗干扰强，可获取不同形状待测件的表面轮廓参数。

技术领域

本实用新型属于测量设备领域，具体是涉及一种核辐射环境下物体表面轮廓测量装置。

背景技术

在核工业现场，往往需要对某些待测件进行表面轮廓参数的测量，如截面尺寸、截面变形量、轮廓尺寸等，测量一般可以分为接触式测量和非接触式测量，接触式测量一般为专用设备测量，如三坐标测量机等，非接触式测量一般为基于光学、光电子学及光电测试技术的测量方法。

在核辐射的环境下对待测件的测量，如放射性燃料、被活化的工件等外形轮廓的测量等，目前多采用专用的接触式测量设备，成本较高、系统复杂、体积和重量大、操作复杂，对不同截面类型的待测件适应性较差。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种对非透明待测件表面轮廓的测量装置，实现在核辐射环境下对待测件轮廓进行实时的、稳定的、高精度的测量。即将视觉测量模块安装在一辐射屏蔽壳体内，并将待测件放置于测量装置的测量范围内，通过采集激光平面与待测工件表面轮廓的交线，并经过图像采集模块获取在待测工件交线的信息，通控制处理系统计算出截面轮廓数据，实现待测件表面轮廓的测量。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种核辐射环境下物体表面轮廓测量装置，包括测量模块、安装壳体、辐射屏蔽壳体和控制处理系统。所述测量模块安装在安装壳体上，所述安装壳体安装于辐射屏蔽壳体内，所述测量模块与控制处理系统电连接。

进一步地，所述测量模块主要包括线激光投射器、图像采集模块、防辐射玻璃、测量模块安装板，所述激光投射器用于将激光投射到待测件表面，并与物体表面轮廓相交形成光条；所述图像采集模块用于对上述光条进行成像，其图像传感器类型可以是CCD或CMOS；所述激光投射器和图像采集模块呈一定夹角安装在安装壳体上。

进一步地，所述防辐射玻璃安装于安装壳体上，所述防辐射玻璃为核工业用的高密度铅玻璃。

进一步地，所述辐射屏蔽壳体用于辐射屏蔽，包括辐射屏蔽壳体前板、辐射屏蔽壳体左侧板、辐射屏蔽壳体后板、辐射屏蔽壳体上板、辐射屏蔽壳体右侧板、辐射屏蔽壳体底板，各零件通过螺栓连接为一个腔体。所述辐射屏蔽壳体前板开有观察窗口。

进一步地，所述辐射屏蔽壳体采用高原子序数材料加工而成，如钨、铅、铜合金等。

进一步地，所述控制处理系统用于图像处理及相关计算模型的计算。

本实用新型的有益效果是：使用上述核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置实现在核辐射环境下对待测件表面轮廓进行高精度的测量，同时该设备具备一定耐辐射能力，结构紧凑，操作简便，适应性和抗干扰强，可获取不同形状待测件的表面轮廓参数。

附图说明

图1是本实用新型一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置的示意图；

图2是本实用新型一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置的辐射屏蔽壳体示意图；

图3是本实用新型一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置的测量模块示意图；

图4是本实用新型一种核辐射环境下的物体表面轮廓测量装置的测量原理示意图；