[实用新型]一种加密模块性能测试装置

说明书

本实用新型公开了一种加密模块性能测试装置，包括存储器、中央处理器、USB接口控制器、SD接口控制器和输入/输出控制器，中央处理器的数据存储读取端与存储器连接，中央处理器的USB接口信号端与USB接口控制器的USB接口信号端连接，中央处理器的SD接口信号端与SD接口控制器的SD接口信号端连接，中央处理器的输入/输出信号端与输入/输出控制器的输入/输出信号端连接；外部USB接口与USB接口控制器的接口端连接，外部SD接口与SD接口控制器的接口端连接，外部串口和网口分别与输入/输出控制器的接口端连接。设置USB接口和SD接口，能够以两种方式实现加密模块的接入。通过串口和网口与计算机相连，实现测试方法的灌装，测试环境搭建简单。

技术领域

本实用新型属于加密模块生产测试技术领域，具体地说，涉及一种加密模块性能测试装置。

背景技术

随着计算机技术的飞速发展，信息网络技术已经成为社会发展的重要保证。为了保障信息数据的安全，加密模块的应用越来越广泛。加密模块作为高性能低功耗的安全保密模块，能从多个层次上抵御对系统的安全威胁，通过加注不同的算法体系，能够实现设备身份鉴别和认证、数据流全态加解密、通信协议安全加固等方法应用，抵御对系统的安全威胁，从而保护系统安全。

在加密模块的测试中，目前主要采用“人工+实体设备”运行的方式，测试效率低，测试环境搭建时间长，不同接口的模块还需要使用不同接口转换设备进行转换。

实用新型内容

针对现有技术中上述的不足，本实用新型提供一种加密模块性能测试装置，该装置设置USB接口和SD接口，能够以两种方式实现加密模块的接入，通过串口和网口与计算机相连，实现测试方法的灌装，装置接入加密模块，再连接上位机后就能够进行加密模块测试，测试环境搭建简单。

为了达到上述目的，本实用新型采用的解决方案是：一种加密模块性能测试装置，包括内部电路和外部接口，所述的内部电路包括存储器、中央处理器、USB接口控制器、SD接口控制器和输入/输出控制器，所述的中央处理器的数据存储读取端与存储器连接，所述的中央处理器的USB接口信号端与USB接口控制器的USB接口信号端连接，所述的中央处理器的SD接口信号端与SD接口控制器的SD接口信号端连接，所述的中央处理器的输入/输出信号端与输入/输出控制器的输入/输出信号端连接；

所述的外部接口包括USB接口、SD接口、串口和网口，所述的USB接口与USB接口控制器的接口端连接，所述的SD接口与SD接口控制器的接口端连接，所述的串口和网口分别与输入/输出控制器的接口端连接。

进一步地，所述的内部电路还包括电源模块，所述的电源模块与存储器、中央处理器、USB接口控制器、SD接口控制器和输入/输出控制器电连接，为存储器、中央处理器、USB接口控制器、SD接口控制器和输入/输出控制器供电。

进一步地，所述的外部接口还包括电源接口，电源接口与电源模块的电流输入端连接。

进一步地，所述的USB接口为USB2.0接口、USB3.0接口中的一种或多种。

进一步地，所述的网口为千兆网口。

进一步地，所述的串口为RS232串口、RS485串口和RS422串口中的一种或多种。

进一步地，所述的USB接口至少二个，所述的SD接口至少二个，所述的串口至少二个，所述的网口至少二个。

本实用新型的有益效果是：

(1)该装置设置USB接口和SD接口，能够以两种方式实现加密模块的接入，通过串口和网口与计算机相连，实现测试方法的灌装，装置接入加密模块，再连接上位机后就能够进行加密模块测试，测试环境搭建简单。

(2)采用千兆网口，数据传输速度快。