[实用新型]测试存储器参考电流的装置及系统有效
| 申请号： | 201821635211.2 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN209199609U | 公开（公告）日： | 2019-08-02 |
| 发明（设计）人： | 李威 | 申请（专利权）人： | 成都丰采电子科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610015 四川省成都市中国（四川）自*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电流比较模块 参考电流 驱动电路单元 选择控制单元 擦除操作 存储单元 编程 本实用新型 测试存储器 外部电流源 装置及系统 第一端 测试 测试设备 目标电流 芯片测试 装置连接 减小 芯片 | ||
【权利要求书】：
1.一种测试存储器参考电流的装置，其特征在于，包括：
外部电流源装置，存储单元及其驱动电路单元装置，电流比较模块，编程/擦除操作选择控制单元装置；所述外部电流源装置与电流比较模块连接，所述电流比较模块的第一端与存储单元及其驱动电路单元装置连接，所述存储单元及其驱动电路单元装置与编程/擦除操作选择控制单元装置的第一端连接，所述编程/擦除操作选择控制单元装置的第二端与电流比较模块的第二端连接；所述外部电流源装置从存储器的芯片信号PIN脚灌入外部电流，该外部电流作为目标电流。
2.如权利要求1所述的测试存储器参考电流的装置，其特征在于，包括编程/擦除操作时间控制单元装置，用于控制施加编程操作的单步操作时间或用于控制施加擦除操作的单步操作时间；编程/擦除操作时间控制单元装置根据参考电流值与目标电流值的差别大小，控制施加的编程操作的单步操作时间或控制施加的擦除操作的单步操作时间。
3.一种存储器参考电流调试系统，其特征在于，基于如权利要求1～2中任一种装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都丰采电子科技有限责任公司，未经成都丰采电子科技有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201821635211.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
