[实用新型]一种多分光镜式高灵敏度同轴光学镜筒有效
申请号: | 201821480827.7 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN209198757U | 公开(公告)日: | 2019-08-02 |
发明(设计)人: | 李常茂;李赣;陈长安;张广丰;杨蕊竹;李强;李海波 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院材料研究所 |
主分类号: | G02B21/18 | 分类号: | G02B21/18;G02B21/06;G02B21/36;G02B27/10 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 王朋飞 |
地址: | 621700 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光镜 本实用新型 光谱分析 离轴反射镜 成像模块 高灵敏度 光谱信号 光学镜筒 照明功能 同轴 高空间分辨率 反射式物镜 空间分辨率 屏蔽环境光 反射激光 光谱收集 激光对焦 镜片切换 透射光谱 系统光路 反射式 环境光 连接带 灵敏度 杂散光 对焦 光路 采集 观察 | ||
本实用新型提供一种多分光镜式高灵敏度同轴光学镜筒,包括第一多分光镜立方(1)、反射式物镜(2)、第二多分光镜立方(3)、离轴反射镜模块(4)、带照明功能成像模块;第一多分光镜立方(1)用于反射激光和透射光谱;第二多分光镜立方(3)连接带照明功能成像模块用于观察和激光对焦,连接离轴反射镜模块(4)用于采集光谱信号。本实用新型通过反射式光谱收集光路,镜片切换,分次实现UV‑VIS‑NIR全光谱分析,光谱信号损失小,具有较高的空间分辨率,且几乎完全屏蔽环境光及杂散光。本实用新型解决了现有技术,难以兼顾UV‑VIS‑NIR全光谱分析与高空间分辨率及光谱分析灵敏度、系统光路对焦困难、易受环境光干扰的技术问题。
技术领域
本实用新型涉及激光光谱分析技术领域,具体涉及一种多分光镜式高灵敏度同轴光学镜筒。
背景技术
微区激光诱导击穿光谱(micro laser-induced breakdown spectroscopy,简称微区LIBS)技术基于原子发射光谱分析原理,将脉冲激光束聚焦至样品表面,烧蚀微区物质产生发光等离子体,通过分析等离子体辐射的原子、离子及分子光谱获知物质微区元素成分及含量。微区LIBS技术具有可分析包括氢的全部元素、可分析不导电及难熔材料、无需真空、分析速度快等优点,空间分辨率可至1~5微米,深度分辨率可至亚微米级别,是一种具有独特优点的新型表面成分分析方法。
光学系统是微区LIBS系统的主体与核心,它一般由微区光学成像、激光微区聚焦、微区光谱分析三大功能模块组成。微区光学成像模块实际为一种无限筒长的光学显微镜,功能是观察样品表面,寻找并对准待分析微区。激光微区聚焦模块功能是烧蚀待分析微区物质并激发出等离子体。微区光谱分析模块功能是收集等离子体辐射的光谱信号,通过光纤送入光谱仪分析。上述三大模块的集成设计,是微区LIBS光学系统设计的关键。
在三大模块的集成设计中,微区光学成像与激光微区聚焦模块的集成一般采用同轴设计,两者共用物镜光轴,在物镜后方采用45度分光镜分离两者光路。微区光谱分析模块的集成则存在同轴设计与旁轴设计两种。在旁轴设计中,微区光谱分析模块与微区光学成像、激光微区聚焦模块相分离,具有独立的斜入射式光路。旁轴设计优点是光谱收集光路不受微区光学成像、激光微区聚焦模块内分光镜的通光范围限制,易于设计,并可工作于UV-VIS-NIR全光谱范围;其缺点是与激光微区聚焦模块存在空间竞争,使两者数值孔径均难以做大,从而影响微区LIBS的空间分辨率与光谱收集效率,并且旁轴光路对振动敏感,系统稳定性一般。在同轴设计中,微区光谱分析模块与微区光学成像、激光微区聚焦模块相集成,三者共用物镜光轴,在物镜后方采用两块45度分光镜一一分离三者光路。与旁轴设计相比,同轴设计可用更大数值孔径物镜,空间分辨率高,集光力强,系统稳定性好,但微区光谱分析模块的通光范围受两块45度分光镜及其它光学镜片的限制,难以做到UV-VIS-NIR全光谱分析。因此,寻找方案改进上述缺点,有利于促进同轴式微区LIBS的实用化。
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