[实用新型]一种元素检测装置和标样

说明书

本实用新型提供一种元素检测装置和标样，所述元素检测装置的测试台面上设置有检测口，所述测试台面上还设有距离标识，所述距离标识用于标识所述测试台面上的目标点距所述检测口的中心的距离；所述标样的非测试面上设有角度标识，所述角度标识用于标识所述标样上的目标点转动至所述标样上的基准点的角度。这样，通过在元素检测装置上设置距离标识，并在标样上设置角度标识，可以实现将标样上的目标校准点精确对准检测口，从而不仅不易出现校准测试失败的现象，还能保证充分利用标样的测试面，避免造成标样的浪费；且由于元素检测装置得以精确校准，从而能够有效提高使用该元素检测装置进行元素检测时的精确性。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤其涉及一种元素检测装置和标样。

背景技术

辉光放电光谱技术(Glow Discharge-Optical Emission Spectrometer，简称GD-OES)是一种基于辉光放电原理，对固体样品成分(如喷涂、含金镀层、半导体、有机涂层等)进行检测分析的技术，其基本原理是：辉光放电腔室内充满低压氩气，当施加在放电两极的电压达到一定值，超过激发氩气所需的能量即可形成辉光放电，放电气体离解为正电荷离子和自由电子，在电场的作用下，正电荷离子加速轰击到样品表面，产生阴极溅射，在放电区域内，溅射的元素原子与电子相互碰撞被激化而发光，而不同元素所发射的光的波长不同，从而可通过对光谱的分析，计算得出各元素的浓度。

由于GD-OES为破坏性的测试，标样上的每个位置在校准测试一次后便会被正电荷离子刻蚀，因此，若再对该位置进行测试，将导致测试失效，对于透明的标样，测试人员较容易通过肉眼判断出标样上哪些点属于已经测试过的点，因而也较容易避免测试失效的问题。然而，对于非透明的标样(如金属标样)，则很难通过肉眼精准定位标样上可供测试的位置，因此，也易出现因测试位置与之前已测试位置重叠而导致测试失效，例如如图1中所示的无效测试点10。

这样，由于现有元素检测装置和标样难以实现精确对准，从而不仅易导致校准测试失败，而且还会导致标样的测试面难以得到充分的利用，进而造成标样的浪费，增加校准测试成本。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的在于提供一种元素检测装置和标样，解决了现有元素检测装置和标样难以实现精确对准的问题。

为了达到上述目的，本实用新型实施例提供一种元素检测装置，所述元素检测装置的测试台面上设置有检测口，所述测试台面上还设有距离标识，所述距离标识用于标识所述测试台面上的目标点距所述检测口的中心的距离。

可选的，所述距离标识为沿所述检测口的中心指向所述测试台面的边缘方向的标识。

可选的，所述距离标识采用刻度尺、弧线、直线、圆点或颜色进行标识。

可选的，所述检测口的直径为2.5mm，所述距离标识上标识有距所述检测口的中心的距离为3jmm的目标点所在位置，其中，j为大于或等于1的整数。

本实用新型实施例还提供一种标样，用于对本实用新型实施例提供的元素检测装置进行校准，所述标样的非测试面上设有角度标识，所述角度标识用于标识所述标样上的目标点转动至所述标样上的基准点的角度。

可选的，所述角度标识分布在所述标样的非测试面的边缘。

可选的，所述角度标识采用刻度尺、直线、圆点或颜色进行标识。

可选的，所述标样的直径为32mm，所述角度标识上标识有转动至所述基准点的角度分别为15k°和18k°的目标点所在位置，其中，k为大于或等于1的整数，15k°＜360°，18k°＜360°。

可选的，所述标样的非测试面上还设有环线标识，所述环线标识用于标识所述标样上各校准环线所在的位置，其中，相邻校准环线之间的间距大于所述元素检测装置的检测口的直径。