[实用新型]开关针元件以及检测设备有效

专利信息
申请号: 201821184972.0 申请日: 2018-07-25
公开(公告)号: CN208432642U 公开(公告)日: 2019-01-25
发明(设计)人: 陈永和;曹诣 申请(专利权)人: 德律科技股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张琳
地址: 中国台湾台北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 第二壳体 开关针 第一壳体 导电件 抵顶件 绝缘件 开口 插设 本实用新型 电性导通 电性分离 检测设备 维修成本 抽换 受损 维修 移动 配置
【说明书】:

实用新型提供了一种开关针元件,包含第一壳体、第一导电件、绝缘件、第二壳体以及抵顶件。第一壳体具有相对的第一开口以及第二开口。第一导电件经第一开口而部分插设于第一壳体。绝缘件第一导电件经由绝缘件连接第一壳体。第二壳体经第二开口而可插拔地套设于第一壳体。抵顶件部分插设于第二壳体中,接触第二壳体,并配置以相对第二壳体移动而可选择性地电性导通或电性分离第一导电件。借此,当开关针元件中的抵顶件受损时,仅需抽换抵顶件以及第二壳体即可完成开关针元件的维修,而不需更换整组开关针元件,进而降低开关针元件的维修成本。

技术领域

本实用新型涉及检测设备领域,特别是涉及一种开关针元件及包含该开关针元件的检测设备。

背景技术

以电子产品来说,产品在构装完成后必须进行电性功能测试,以确保出厂的电子产品在功能上的完整性。同时,通过电性测试结果来作分类,可作为不同等级产品的评价依据。以半导体测试工艺为例,在将待测元件(例如,封装IC)送入测试机(Tester)中(例如,逻辑IC测试机、内存IC测试机、混合式IC测试机)之后,测试机可针对为待测元件所量身订作的测试程序进行细部相关控制,发出待测元件所需的电性信号,并接受由待测元件响应的电性信号,借以作出产品电性测试结果判断。

一般来说,待测元件与测试机间往往存在有接口问题而无法直接连接,因此必须通过转换接口-电测治具,以让测试作业顺畅进行。进一步来说,电测治具是通过连接测试机的测试接点与待测元件的接脚的方式,例如探针(Probe),以作为电性信号传递桥梁。

目前,在将待测电路板放置于电测治具的载板上的过程中,为了尽可能确保待测电路板与载板能够顺利地结合而不翘起,有一种习知测试机是在测试机的轨道上设置可测距离的距离传感器,借以利用所侦测的高度差来判断是否达到定位。然而,距离传感器牵涉到较精密的距离测量设定,因此调整不易,且使用过程中的稳定性不佳。另外,为了达到上述目的,还有一种习知测试机是在电测治具载板的四角分别安装微动开关,然而,微动开关安装不易,而且每个电测治具皆需安装,并无法因应不同待测电路板而使用。

实用新型内容

本实用新型提供一种开关针元件以及检测设备,通过设置可插拔的第二壳体,在开关针元件的抵顶件受损时,仅需抽换抵顶件以及第二壳体即可完成开关针元件的维修,而不需更换整组开关针元件,进而降低开关针元件的维修成本。依据本实用新型的一个实施方式,开关针元件包含第一壳体、第一导电件、绝缘件、第二壳体以及抵顶件。第一壳体具有相对的第一开口以及第二开口。第一导电件经第一壳体的第一开口而部分插设于第一壳体。绝缘件第一导电件经由绝缘件连接第一壳体。第二壳体经第一壳体的第二开口而可插拔地套设于第一壳体。抵顶件部分插设于第二壳体中,接触第二壳体,并配置以相对第二壳体移动而可选择性地电性导通或电性分离第一导电件。

在本实用新型的一个或多个实施方式中,开关针元件还包含第一弹性件。第一弹性件位于第二壳体中,连接于第二壳体靠近第一壳体的第一开口的一端与抵顶件之间,并缠绕抵顶件。

在本实用新型的一个或多个实施方式中,开关针元件还包含第二弹性件。第二弹性件位于第二壳体中。抵顶件包含第一抵顶段以及第二抵顶段。第一弹性件缠绕抵顶件的第二抵顶段。第二弹性件衔接于抵顶件的第一抵顶段与第二抵顶段之间。

在本实用新型的一个或多个实施方式中,第二弹性件的弹性系数不同于第一弹性件的弹性系数。

在本实用新型的一个或多个实施方式中,抵顶件的第一抵顶段具有槽孔。抵顶件的第二抵顶段部分可滑动地套设于第一抵顶段的槽孔中。第二弹性件位于第一抵顶段的槽孔中。

在本实用新型的一个或多个实施方式中,抵顶件的第二抵顶段包含滑块。第二抵顶段的滑块可滑动地衔接第一抵顶段的槽孔的内壁。

在本实用新型的一个或多个实施方式中,第二壳体包含本体部以及挡止部。第二壳体的本体部套设于第一壳体内。第二壳体的挡止部自本体部突出,并接触第一壳体邻接第二开口的端面。

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