[实用新型]一种集成电路跨平台测试装置有效

申请号：	201821111903.7	申请日：	2018-07-13
公开（公告）号：	CN209513981U	公开（公告）日：	2019-10-18
发明（设计）人：	王秀军;陈爱兵;韩凤;顾耀;许志安;王濬腾	申请（专利权）人：	日月光半导体（昆山）有限公司
主分类号：	G01R31/28	分类号：	G01R31/28;G01R1/04
代理公司：	北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287	代理人：	林斯凯
地址：	215323 江苏省***	国省代码：	江苏;32
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摘要：
搜索关键词：	载板跨平台测试测试平台测试载板集成电路装载本实用新型承托件承托载具
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【说明书】：

本实用新型涉及一种集成电路(IC)跨平台测试装置。根据本实用新型的一实施例，集成电路跨平台测试载具包含第一载板，其具有第一形状，所述第一载板适用于专门装载具有所述第一形状的测试载板的第一测试平台，以及第二载板，其具有第二形状，所述第二载板适用于专门装载具有所述第二形状的测试载板的第二测试平台，其中，所述第一载板还包含承托件，所述承托件承托具有所述第二形状的所述第二载板，以使得具有所述第二形状所述第二载板能适用于专门装载具有所述第一形状的测试载板的所述第一测试平台。

技术领域

本实用新型大体涉及集成电路(IC)测试技术，特别是对集成电路进行跨平台测试的技术。

背景技术

在半导体产业内，通常有必要对已经制造完成的大量集成电路IC芯片中的各个单颗IC芯片进行逐个测试，以判定这些IC芯片是否能够实现设计初衷和/或存在制造缺陷。

上述测试一般在测试平台上进行，以对各个单颗IC芯片进行流水线测试。业内常用的测试平台包括重力式测试平台、转塔式测试平台以及吸放式测试平台，其中尤以转塔式测试平台及吸放式测试平台最为常见。并且，针对以上每一种测试平台，都配备有专用的测试载板以搭载待测单颗IC芯片。

实用新型内容

由于业内常用的测试平台的结构各不相同，导致各自专用的测试载板无法通用，因而可能造成在测试过程中，当转塔式测试平台忙于测试不堪重负时，吸放式测试平台却在一旁闲置不用，从而造成测试资源的极大浪费以及测试效率的严重降低。

有鉴于此，本实用新型提供一种IC跨平台测试装置，以期在不显著提高企业成本的前提下，实现对IC进行跨平台测试，从而有效避免测试资源的浪费并极大提升测试效率。

本实用新型的一实施例提供一种集成电路跨平台测试载具，其包含：第一载板，其具有第一形状，所述第一载板适用于专门装载具有所述第一形状的测试载板的第一测试平台，以及第二载板，其具有第二形状，所述第二载板适用于专门装载具有所述第二形状的测试载板的第二测试平台，其中，所述第一载板还包含承托件，所述承托件承托具有所述第二形状的所述第二载板，以使得具有所述第二形状所述第二载板能适用于专门装载具有所述第一形状的测试载板的所述第一测试平台。

根据本实用新型的又一实施例，集成电路跨平台测试载具中的所述第一载板与所述承托件可机械分离。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的所述第一载板不包含电路。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的所述第一载板包含电路。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的所述第一载板包含穿线孔。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的所述第一载板和/或第二载板为印刷电路板(PCB)。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的所述第一载板为矩形。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的第二载板为船型或三角形。

根据本实用新型的另一实施例，集成电路跨平台测试载具中的经由紧固件将所述第二载板紧固于所述承托件上。

附图说明

图1是转塔式测试平台的结构示意图。

图2矩形测试板及船型测试板组装示意图。

图3是本实用新型转塔与吸放式测试平台集成电路跨平台测试载具的分解图。