[实用新型]一种薄膜检测光源有效
申请号: | 201821092001.3 | 申请日: | 2018-07-11 |
公开(公告)号: | CN208736814U | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 邹逸 | 申请(专利权)人: | 无锡赛默斐视科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01;F21V19/00;F21V9/00 |
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地址: | 214000 江苏省无锡市新区菱*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜检测 灯珠 散热管 斜坡 本实用新型 灯罩 光源 支撑 薄膜缺陷 内部设置 光源灯 聚光板 偏光板 底座 反射 检测 | ||
本实用新型公开了一种薄膜检测光源,包括底座、灯罩、散热管和灯珠,所述散热管上方设置有支撑斜坡,所述支撑斜坡与散热管成40‑60°角,所述灯珠设置在支撑斜坡上,所述灯珠上方设置有偏光板。本实用新型的一种薄膜检测光源灯珠采用倾斜设计,灯珠上方位于灯罩的内部设置有聚光板,能够有效避免在薄膜检测过程中因反射严重而造成薄膜缺陷检测不精确的问题。
技术领域:
本实用新型涉及薄膜检测技术领域,尤其涉及一种薄膜检测光源。
背景技术:
薄膜广泛应用于电子电器、机械、包装、印刷等行业。在薄膜生产过程中,常常会因为灰尘、杂质等原因造成薄膜表面存在异物、晶点及划伤等问题,对薄膜的应用有一定的影响,在生产过程中需要对薄膜的缺陷进行严格的把控,因此薄膜检测设备成为薄膜生产领域必不可少的设备,光源是薄膜检测设备的重要部件,因为薄膜通常是透明的,现有的应用于薄膜检测的光源通常会因反射严重而造成薄膜缺陷检测不精确的问题。
公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
实用新型内容:
本实用新型的目的在于提供一种薄膜检测光源,从而克服上述现有技术中的缺陷。
为实现上述目的,本实用新型提供了一种薄膜检测光源,包括底座、灯罩、散热管和灯珠,所述散热管上方设置有支撑斜坡,所述支撑斜坡与散热管成40-60°角,所述灯珠设置在支撑斜坡上,所述灯珠上方设置有偏光板。
所述灯罩采用PC或者PMMA材料,所述灯罩的厚度为0.5-2.5mm。
所述偏光板位于灯罩内部,所述偏光板的厚度为0.8-1.5mm。
所述灯珠为LED灯珠,所述LED灯珠的直径为0.5-1.0cm。
与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:
本实用新型的一种薄膜检测光源灯珠采用倾斜设计,灯珠上方位于灯罩的内部设置有聚光板,能够有效避免在薄膜检测过程中因反射严重而造成薄膜缺陷检测不精确的问题。
附图说明:
图1为本实用新型的一种薄膜检测光源的主视图;
图2为本实用新型的一种薄膜检测光源的左视图;
图3为本实用新型的实施例1的示意图;
图4为本实用新型的实施例2的示意图;
图5(a)为本实用新型的实施例1拍摄的薄膜缺陷的图片;
图5(b)为本实用新型的实施例2拍摄的薄膜缺陷的图片;
附图标记为:1-底座、2-灯罩、3-散热管、4-支撑斜坡、5-灯珠、6-偏光片、110-相机、120-薄膜、130-光源、140-存储电脑、150(a)-实施例1薄膜缺陷图片、150(b)-实施例2薄膜缺陷图片。
具体实施方式:
下面对本实用新型的具体实施方式进行详细描述,但应当理解本实用新型的保护范围并不受具体实施方式的限制。
除非另有其它明确表示,否则在整个说明书和权利要求书中,术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分,而并未排除其它元件或其它组成部分。
实施例1:
如图1-2所示,一种薄膜检测光源,包括底座1、灯罩2、散热管3和灯珠5,所述散热管3上方设置有支撑斜坡4,所述支撑斜坡4与散热管3成45°角,所述灯珠5设置在支撑斜坡4上,所述灯珠5上方设置有偏光板6。
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