[实用新型]一种高精确度的薄膜厚度测量装置有效
申请号: | 201821033373.9 | 申请日: | 2018-07-02 |
公开(公告)号: | CN208505182U | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 王平 | 申请(专利权)人: | 长沙学院 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06 |
代理公司: | 泰州地益专利事务所 32108 | 代理人: | 谭建成 |
地址: | 410003 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 卷轴 计量 记圈 薄膜厚度测量装置 驱动机构 圆形筒 薄膜 直径测量仪 计算模块 计米器 驱动 凸起 第一驱动机构 按压 本实用新型 计量转轴 一端连接 外露端 支撑件 抵压 架体 通轴 缠绕 转动 平行 测量 记录 | ||
本实用新型提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置,该高精确度的薄膜厚度测量装置包括:支撑件,包括架体、通轴,以及圆形筒柱,其中,圆形筒柱用于缠绕薄膜;还包括用于驱动圆形筒柱转动的第一驱动机构;计量卷轴,薄膜的外露端平行收紧在计量卷轴上,计量转轴的一端连接有驱动计量卷轴旋转的第二驱动机构,计量卷轴远离第二驱动机构的一端设有凸起;记圈器,第二驱动机构驱动计量卷轴旋转至设定位置时,凸起抵压一次记圈器的开关;还包括计米器、直径测量仪、计算模块;通过计量卷轴每旋转一次按压一次记圈器,设有的记圈器和直径测量仪通过计算模块计算出每层薄膜的平均厚度,设有的计米器记录在同一设定长度反复进行测量,使该装置准确性更高。
技术领域
本实用新型涉及到薄膜厚度测量装置技术领域,尤其涉及到一种高精确度的薄膜厚度测量装置。
背景技术
薄膜是非常薄的膜体,薄膜的厚度直接影响其质量和使用价值,在现有技术中测量薄膜时,往往只是对薄膜的某个位置进行测量,测量数据不准确,不足以拿来进行参考。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足,提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置。
本实用新型是通过以下技术方案实现:
本实用新型提供了一种高精确度的薄膜厚度测量装置,该高精确度的薄膜厚度测量装置包括:支撑件,包括架体,与所述架体转动连接的通轴,以及套装在所述通轴上并与所述通轴固定连接的圆形筒柱,其中,所述圆形筒柱用于缠绕薄膜;还包括用于驱动所述圆形筒柱转动的第一驱动机构;
计量卷轴,所述薄膜的外露端平行收紧在所述计量卷轴上,所述计量卷轴的一端连接有驱动所述计量卷轴旋转的第二驱动机构,所述计量卷轴远离所述第二驱动机构的一端设有凸起;
记圈器,所述第二驱动机构驱动所述计量卷轴旋转至设定位置时,所述凸起抵压一次所述记圈器的开关;
计米器,用于测量所述薄膜收纳在与所述计量卷轴上的米数;
直径测量仪,用于测量所述测量所述计量卷轴上所收纳薄膜的厚度;
计算模块,在所述计米器检测的所述薄膜缠绕到所述计量卷轴上设定长度时,根据所述直径测量仪测量的缠绕到所述计量卷轴上的直径以及所述记圈器测量的缠绕到所述计量卷轴上的薄膜的圈数计算所述设定长度的薄膜的平均厚度。
优选的,所述通轴沿周向设有多个支撑腿,所述多个支撑腿分别支撑所述圆形筒柱的内壁。
优选的,所述通轴延伸出所述圆形筒柱的两端分别与所述架体转动连接。
优选的,所述第一驱动机构为第一电机,所述第一驱动电机的输出轴连接所述通轴的一端;所述第二驱动机构为第二驱动电机,所述第二驱动电机的输出轴连接所述计量卷轴的一端;其中,所述第一驱动电机和所述第二驱动电机同向旋转,并且转速相同。
优选的,还包括安装所述计量卷轴、所述计米器、所述记圈器、所述直径测量仪以及所述第二驱动电机的安装架。
优选的,所述计米器固定安装在所述安装架上,所述计米器的米轮与所述薄膜相抵压,所述薄膜运动带动所述米轮旋转。
优选的,所述计米器为以毫米为单位的计米器。
优选的,所述计算模块连接有显示计算数据结果的显示屏。
本实用新型的有益效果是:通过计量卷轴每旋转一次按压一次记圈器,设有的记圈器和直径测量仪通过计算模块计算出每层薄膜的平均厚度,设有的计米器记录在同一设定长度反复进行测量,使该装置准确性更高。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的高精确度的薄膜厚度测量装置的结构示意图;
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