[实用新型]一种陶瓷密封盖及分析仪

说明书

本实用新型涉及一种陶瓷密封盖及分析仪，所述陶瓷密封盖，包括密封盖本体，所述密封盖本体采用陶瓷材料一体成型，其中部向一侧凸出，形成凸出部，所述凸出部的中部开设有密封盖通孔，所述密封盖本体的边缘以及所述通孔均加工有倒角。所述分析仪，包括取样盒、密封盖、前端盖、胶卷、后端盖、高压设备，所述前端盖与取样盒共同夹紧所述密封口，所述后端盖设置在前端盖的另一侧并与可前端盖闭合；所述胶卷设置在所述前端盖和后端盖之间，并可遮挡着所述前端盖通孔。本实用新型所述的分析仪中的密封盖整体采用高性能耐磨陶瓷材料，端盖正面测量密封口采用了倒角设计采用的是陶瓷材料，增加耐磨性，能够很好的和胶卷贴合而不渗漏。

技术领域

本实用新型涉及矿浆检测领域，特别是涉及一种陶瓷密封盖及分析仪。

背景技术

选矿是根据矿石中不同矿物的物理、化学性质，采用不同的工艺将矿物与脉石分开的过程。

在现有技术中，一般采用X射线荧光分析仪，利用X射线照射到矿浆样品上激发出被测元素的X射线，再利用探测头接收激发出的射线，并通过相关设备分析矿浆中的元素。其中，分析仪测量窗口的密封盖安装精度和使用寿命直接影响分析仪数据的测量精度和可靠性。密封盖安装在分析仪X射线探头的外侧，端盖反面为矿浆流经处(样品盒)，端盖正面紧贴分析仪窗口(测量胶卷)，现有技术中的密封盖主要由钢铸和外包橡胶组成，由四个螺丝进行固定。由于分析仪测量4小时要进行交卷更换，长时间测量交卷和密封盖的外包橡胶进行摩擦，造成包边移位或翻边，造成测量是密封盖没有起到密封的做用，有时会滞留矿浆或者漏矿浆，测量不准或掉高压。密封盖使用寿命2个月左右，一小部分密封盖使用寿命甚至更短。磨损及微渗漏所带来矿浆会导致测量数据偏差较大，同时经常会出现样品盒堵塞的误报警。这些误报警不仅加大了分析仪工作人员对故障的分析难度和维护工作量同时也对测量数据的准确性造成了很大的影响。为了改变这现象，必须采取更高效合理的设计取代目前的情况。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的在于，提供一种耐用、封闭性好的陶瓷密封盖。

一种陶瓷密封盖，包括密封盖本体，所述密封盖本体采用陶瓷材料一体成型，其中部向一侧凸出，形成凸出部，所述凸出部的中部开设有密封盖通孔，所述密封盖本体的边缘以及所述通孔均加工有倒角。

作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述密封盖本体为圆形盖体，所述密封盖通孔为圆孔。

作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述凸出部为锥形凸起。

作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述盖体边缘的倒角宽度a＝1，深度b＝3。

作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述密封盖通孔的倒角宽度c＝0.5，深度d＝0.2。

相比现有技术，为了提高该密封盖的使用寿命和降低维护的工作量，本实用新型所述的密封盖采用了陶瓷材料，密封盖可以在制作得更加纤薄，同时保持相当的密闭性，采用新的设计布局方式后明显提高了使用寿命，解决原来由于密封盖外包橡胶的翻边造成的测量不准和胶卷破裂等问题，节约成本的效果显著，同时，极大的减少了操作人员的维护量。

本实用新型的另一目的在于提供一种分析仪，包括取样盒、密封盖、前端盖、胶卷、后端盖、高压设备，所述取样盒两侧分别开设有进浆口和出浆口，且其一端开口，另一端封闭，所述密封盖为本申请实施例上述的陶瓷密封盖，其大小与所述取样盒的开口端的开口大小相等，遮挡所述开口；所述前端盖设置在密封盖的另一侧，与取样盒共同夹紧所述密封口，前端盖处于所述密封盖凸出的一侧，其中部设置有与所述凸出部配合的凹部，该凹部开设有与所述密封盖通孔同轴的前端盖通孔；所述后端盖设置在前端盖的另一侧并与可前端盖闭合，其中部也开设有与密封盖通孔同轴的后端盖通孔；所述胶卷设置在所述前端盖和后端盖之间，并可遮挡着所述前端盖通孔；所述高压设备设置在所述后端盖相对胶卷的另一侧，并且朝向所述密封盖通孔。

作为上述分析仪的进一步改进，所述高压设备集成了射线源、探测头以及高压电源。