[实用新型]镀层的X荧光测试装置

说明书

本实用新型公开了镀层的X荧光测试装置，所述液压缸的伸缩端安装有推杆，所述推杆的下部安装有滑块，所述滑块的下部设置有导槽，所述导槽的两侧设置有限位块，所述推杆的端侧安装有连接板，所述连接板的端侧转动连接有转轴，所述转轴的端侧通过驱动轴转动连接有电机，所述转轴的侧部转动连接有立板，所述立板和连接板共同组成凹形腔，所述立板的内侧和连接板的内侧均安装有X射线光管和LED灯。本实用新型通过X射线光管和LED灯提供射线和光源，通过电机转动带动抓转轴和立板转动，从而扩大凹形腔的开口大小，液压缸伸缩带动推杆和连接板移动，方便的对待侧件进行整体检测，提高检测结果的准确性。

技术领域

本实用新型涉及镀层测试技术领域，具体涉及镀层的X荧光测试装置。

背景技术

镀层是指为了好看或储藏而涂在某些物品上的金属表面涂上一层塑料，或者一层稀薄的金属或为仿造某种贵重金属，在普通金属的表面镀上这种贵重金属的薄层。

镀层完毕后，往往需要采用测试装置对镀层的厚度以及均匀度进行检测与分析，常用的分析方法有湿化学分析、辉光放电、发射光谱分析(GD-OES)和XRF等。湿化学分析须选择适当的溶剂溶解选定的层，逐层溶解后再进行测定，方法准确但费时费力，特别是溶剂的选择也非易事。GD-OES方法用惰性原子逐层轰击及剥离试样表层，再用发射光谱测定之。这种方法可以实现剖面或逐层分析，但测量的重复性并不理想。X荧光法(XRF)可以非破坏性完成组分和厚度的同时测定，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常为1nm-100um。X荧光法分析镀层与常规定量分析相比较，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与薄膜中待测元素和基材的组成有关，而且与薄膜的厚度有关，现有的采用X荧光法(XRF)对镀层进行测试的装置。

但是现有的X荧光测试往往只能对镀层的单一部位进行检测，这就导致难以检测镀层的厚度是否均匀，检测结果往往存在偏差，影响检测结果。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供镀层的X荧光测试装置，简单方便的扩大凹形腔的尺寸，扩大X射线光管和LED灯的照射面积，通过液压缸带动连接板和立板运动，达到对待测件充分有效的检测，实现对待测件全方位的检测，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：镀层的X荧光测试装置，包括液压缸、X射线光管和LED灯，所述液压缸的伸缩端安装有推杆，所述推杆的下部安装有滑块，所述滑块的下部设置有导槽，所述导槽的两侧设置有限位块，所述推杆的端侧安装有连接板，所述连接板的端侧转动连接有转轴，所述转轴的端侧通过驱动轴转动连接有电机，所述转轴的侧部转动连接有立板，所述立板和连接板共同组成凹形腔，所述立板的内侧和连接板的内侧均安装有X射线光管和LED灯。

优选的，所述推杆的下部设置有与滑块相匹配的凹槽，且所述推杆呈“倒凹字形”设置。

优选的，所述滑块的宽度与导槽的宽度相匹配，且所述滑块设置有至少三组。

优选的，所述连接板的宽度分别与立板的宽度和转轴的宽度相一致，且所述连接板的厚度与立板的厚度相一致。

优选的，所述电机的下部设置有底座，所述底座的侧部安装于连接板的侧部。

优选的，所述X射线光管和LED灯呈交错布置，且所述X射线光管与LED灯的一侧均设置有灯座。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过X射线光管和LED灯提供射线和光源，通过电机转动带动抓转轴和立板转动，从而扩大凹形腔的开口大小，扩大每次测试的面积。

2、通过液压缸伸缩带动推杆和连接板移动，从而带动立板和位于其内的X射线光管和LED灯移动，进而达到对待测件不同部位的检测与测试。