[实用新型]一种接触器主触点通断状态检测功能电路

说明书

本实用新型涉及一种接触器主触点通断状态检测功能电路，包括电源及与电源串联连接的接触器，所述接触器的K触点与MCU中央处理器连接并受其控制进行开关状态切换；接触器的主触点与动力负载连接控制其导通与关闭；所述接触器连接继电器然后与光耦原边的LED串联后连接电源构成回路，所述继电器与MCU中央处理器连接并受其控制进行开关状态切换；所述光耦的副边与MCU中央处理器连接，所述MCU中央处理器接收光耦状态信号并进行状态判断。可直接对通断状态进行检测，并且电子式主动检测方式避免了机械式辅助触点通断的老化、工作环境的污来时染等情况造成的检测不可靠缺陷；系统部件简便，成本低。

技术领域

本实用新型涉及检测电路装置领域，具体是一种接触器主触点通断状态检测功能电路。

背景技术

电气装置安装和应用中，对安全要求越来越严格，特别是在检修和日常维护中，必须考虑工作人员和设备的安全。轨道交通、工业终控台等电气设备的配电箱、控制柜，新能源汽车BMS和控制盒等中，一般都是通过大功率电流的接触器（直流/交流）的通断来控制功率系统内部负载电路的电力供应，接触器触点的可靠性工作关系到整个电控系统的配电和供电的有效性，必须对自身的工作状态进行检测和状态反馈，达到对安全的基本要求。

目前的大功率接触器的触点检测，普遍采用带辅助触点反馈的接触器，如图1所示：T1/T2为主功率接触触点，L1/L2为接触器的控制线圈，TA/TB为接触器的辅助触点（含常开/常闭触点），具体工作过程如下：当图中的电源控制开关断开，T1/T2接触器主触点断开，同样辅助触点TA/TB触点保持原始状态（开路状态），这样检测电阻两端的电压为低电平；当MCU控制器控制K开关闭合，给接触器L1/L2线圈供电，产生电磁吸力使T1/T2闭合，同时辅助触点TA/TB闭合，MCU控制板端的电源则通过TA端子传输到TB端，检测电阻两端则检测到电源电压，即检测到高电平。MCU控制板则控制K开关前，检测电阻电压为低电平，MCU判断，接触器处于待工作状态；控制K开关闭合，检测电阻电压为高电平。这样MCU控制K开关前后，检测电阻两端的电平发生由低到高的变化，MCU则判断接触器触点闭合正常，反之为不正常。

采用自带辅助触点的接触器用来检测接触器主触点的吸合状态，主要的问题和缺陷，归纳如下：

1、间接检测：通过接触器的辅助触点的转态变化来判断主触点的闭合/断开变化；不是直接检测主触点的转态；

2、可靠性不高：该检测原理是控制线圈的通断电状态与主触点和辅助触点变化是同时的、同步的，控制线圈通电时，接触器内部感应产生磁场，对连轴的主触点和辅助触点同时产生磁力，该磁力足以改变它们的位置变换，使触点进行相应的闭合、断开。机械触点容易随着使用时间会有所老化、生锈等对环境要求也很高，可靠性不高。

3、布线困难:大功率接触器辅助触点没法与MCU控制直接相连，必须通过信号线进行连接，这就导致在强电（大功率）系统中需要增加弱电控制线进行布线，对EMC处理及绝缘安全带来一定的难度。

4、成本较高：带辅助触点的接触器，特别是直流接触器，市场普遍价格高、成本难以得到有效控制。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种接触器主触点通断状态检测功能电路，以解决现有技术中存在的缺陷。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下：

一种接触器主触点通断状态检测功能电路，包括电源及与电源串联连接的接触器，所述接触器的K触点与MCU中央处理器连接并受其控制进行开关状态切换；接触器的主触点与动力负载连接控制其导通与关闭；所述接触器连接继电器然后与光耦原边的LED串联后连接电源构成回路，所述继电器与MCU中央处理器连接并受其控制进行开关状态切换；所述光耦的副边与MCU中央处理器连接，所述MCU中央处理器接收光耦状态信号并进行状态判断；

进一步的，所述继电器为固态继电器或光MOS继电器；