[实用新型]一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构

说明书

本实用新型公开了一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，包括老化测试设备；所述老化测试设备内部由PCB、铜柱和接口板组成，所述PCB和铜柱连接接口板，并通过接口板提供相应待测芯片电压及信号。本老化板设计，不仅可以为测试板提供小电流电源和信号，满足不同芯片的测试需求，并且所述老化板可独立供给大电流，以应对不同芯片测试需求，方便将各种芯片进行整合测试，该老化板不仅适用现有LM2100老化测试设备，而且可以扩展满足不同测试设备，使用这种老化板可以降低测试成本，充分提高老化板的测试范围，以应对不同芯片测试，并可加固老化板与测试机的连接。

技术领域

本实用新型涉及集成电路老化测试技术领域，具体为一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构。

背景技术

目前，集成电路的设计复杂度越来越高，老化测试需要涵盖的范围也越来越大，不同的测试需要不同的电压和信号。现阶段的老化板都是单一供电，通用性，扩展性和兼容性差。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，具备兼容老版本而且可以扩展满足不同芯片测试，降低测试成本，充分提高老化板的测试范围，以应对不同芯片测试，并可加固老化板与测试机的连接的特点，解决了现有技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，包括老化测试设备，所述老化测试设备的内部由PCB、铜柱和接口板组成，所述PCB上侧的面板上开设有通孔，PCB上方设置有铜柱，所述铜柱的一端嵌入在通孔的内壁中，铜柱的另一端固定连接有接口板。

优选的，所述PCB上设有4个半径1mm的通孔。

优选的，所述PCB上安装的铜柱数量为2个，相邻的间距为40mm，与PCB边沿夹角为90°。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

本实用新型的一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，PCB和铜柱，PCB由192个电路信号，4组电源和对应的地组成金手指的构件，PCB上开设4个半径1mm的通孔，提供作为2个铜柱嵌入，并与接口板连接；2个铜柱相邻的间距为40mm，与PCB边沿夹角为90°，用于接口板定位与提供大电流，使用这种老化板可以降低测试成本，充分提高老化板的测试范围，以应对不同芯片测试，并可加固老化板与测试机的连接；该老化板不仅适用现有LM2100崩应可靠性测试设备，而且可以扩展满足不同老化测试设备。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的部分结构示意图。

图中：1PCB、2铜柱、3通孔、4老化测试设备、5接口板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，一种LM2100崩应可靠度测试机老化板结构，包括老化测试设备4，老化测试设备4的内部由PCB1、铜柱2和接口板5组成，PCB1由192个电路信号，4组电源和对应的地组成金手指的构件，PCB1上侧的面板上开设有4个半径1mm的通孔3，PCB1的上方安装有铜柱2，铜柱2的一端嵌入在通孔3的内壁中，另一端与接口板5连接，铜柱2数量为2个，相邻的间距为40mm，与PCB1边沿夹角为90°，用于接口板5定位与提供大电流。