[实用新型]一种多功能射频诊断电路测试系统

说明书

本实用新型公开了一种多功能射频诊断电路测试系统，包括支撑待测射频电路模块的基座和用于从待测射频电路模块获取检测信号的探针；在所述的基座上安装有衍架，所述的衍架横跨在待测射频电路模块上方，安装在所述的衍架上的悬臂架，在所述的悬臂架末端设置有固定探针的探针架。本实用新型设计了一种通用性较高的电路板测试系统，同一款设备能够测试多款电路板，不仅能够实现直流电馈电还能够实现射频信号馈电，同时结构简单、坚固耐用，能够工作在恶劣环境下，十分适合检测处于环境试验下的电路故障。

技术领域

本实用新型涉及射频电路测试领域，特别涉及一种多功能可调节不可触射频电路诊断测试系统。

背景技术

在射频系统测试中，例如雷达或卫星通信等模块在测试时不仅需要加直流电源，还需要注入射频信号才能检测系统性能。在射频单电路板测试中，由于脱离系统，常不具有标准的射频接口(例如SMA、MCX等)，其射频性能不易测试，因而单板的射频性能测试一直是业界难点。现有技术采用根据待测电路板定制的测试系统，使用多探针馈电同时输入信号并且检测输出信号。

其次，军用或宇航级射频模块要求在恶劣环境中(例如高低温、湿热、盐雾以及低气压等条件)仍能够正常工作，常出现模块在环境试验过程中出现故障，但故障在常环境下(常温常压)无法复现，这对模块的故障检测和定位带来极大的挑战。由于处于高低温或其他环境试验现场的模块对于检测人员来说处于不可触状态，无法用常规手段诊断和检测故障发生点，无法及时采取解决措施。因此迫切需求一只能在不可触环境下检测电路内部各可疑点的测试设备。目前业界无此类检测设备。

业界对产品偶发故障仍无良好的解决方案，偶发故障定义为产品在很长一段时间(例如一个小时)发生短时(几秒钟)或瞬间故障，由于故障出现时间短，情形随机，因此很难诊断故障发生的原因。

现有技术中的电路测试设备具有如下不足：

现有的电路板测试设备多设计为单板测试，专用性强，成本高，通用性差；

现有的电路板测试设备不利于射频信号的输入和输出；

现有的电路板测试设备不能应用在恶劣试验环境中；

现有的电路板测试设备不能有效的发现和定位偶发故障；

现有的射频探针不具备可靠的地接触，导致信号匹配不佳，测试误差大。

导致这些不足的原因如下：

现有的电路板测试设备多为某一待测电路板专门定制，通用性差，成本高；

现有的电路板测试设备对于射频的馈电技术仍不成熟，由于射频馈电需要信号线与地线同时与待测电路接触，且需要保证良好匹配，现有的技术无法简单可靠的实现，能够精密实现射频馈电的测试系统十分精密，成本极高；

当前业界常规的电路故障检测系统均使用在常温常压，如果需要检测恶劣环境下的电路故障，需将故障检测系统与待测模块一同进行环境试验，由于故障检测系统十分精密且贵重，处于恶劣试验环境下可能会造成自身的损坏，这时由于故障检测系统自身带来的测试误差或测试错误将干扰待测模块的故障诊断。

发现和定位偶发故障需要长时间的测试和记录，需配备无人值守的自动化测试系统，目前业界没有射频测试类的相关产品。

现有的射频探针一般只有同轴线芯有弹性，同轴线屏蔽接触地无弹性或者接触地不与待测电路接触。

实用新型内容

针对现存技术的上述不足，本实用新型提供一种多功能可调节不可触射频电路诊断测试系统。