[实用新型]一种光敏粒度分析仪有效
申请号: | 201820086200.7 | 申请日: | 2018-01-18 |
公开(公告)号: | CN207730616U | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 张影影 | 申请(专利权)人: | 张影影 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 | 代理人: | 许伯严 |
地址: | 322305 浙江省金华市浦江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光敏 中心支撑板 发光探头 观察室 粒度分析仪 待测样品 接收探头 抽风机 通孔 底部中心位置 底板 容纳 本实用新型 顶板中心 紧固螺钉 粒度检测 中段位置 柱形通孔 左右两侧 漏斗型 内壁 测量 相通 穿过 阻挡 | ||
本实用新型提交一种光敏粒度分析仪,包括底板、光敏接收探头、第一抽风机、中心支撑板、粒度孔、第二抽风机、顶板、光敏发光探头、待测样品室、本体、第一观察室、第二观察室;光敏接收探头设在本体底部中心位置的U型孔内,中心支撑板的两端通过紧固螺钉固定在本体内部中段位置左右两侧的内壁上,所述中心支撑板的中心位置设有容纳粒度孔的通孔,所述粒度孔的中心位置设有漏斗型通孔,顶板的左侧设有容纳待测样品室底部与第一观察室相通的柱形通孔,光敏发光探头设在顶板中心位置的凹槽内底部,穿过粒度孔的颗粒会阻挡光线一段时间,进而光敏发光探头发出信号,根据粒度孔尺寸实现待测颗粒的粒度检测,能够提高测量的准确性。
技术领域
本实用新型涉及一种光敏粒度分析仪,属于粒度分析仪领域。
背景技术
激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的散射谱经计算机进行数据处理来分析颗粒分布的,它可以用来测量固态颗粒物质的粒度分布以及运动颗粒群的粒度分布。测试对象为各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等;跟中金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉及稀土金属粉、合金粉等;其它粉体:如催化剂、水泥、磨粉、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料等,现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题。
实用新型内容
本实用新型针对现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题,设计了一种光敏粒度分析仪。
本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是:
该一种光敏粒度分析仪,其结构包括:底板、光敏接收探头、第一抽风机、中心支撑板、粒度孔、第二抽风机、顶板、光敏发光探头、待测样品室、本体、第一观察室、第二观察室;底板设在本体底部,光敏接收探头设在本体底部中心位置的U型孔内,第一抽风机设在第一观察室的左右两侧的中心位置,中心支撑板的两端通过紧固螺钉固定在本体内部中段位置左右两侧的内壁上,所述中心支撑板的中心位置设有容纳粒度孔的通孔,所述粒度孔的中心位置设有漏斗型通孔,第二抽风机设在第二观察室的左右两侧的中心位置,顶板设在本体的顶部,顶板的左侧设有容纳待测样品室底部与第一观察室相通的柱形通孔,光敏发光探头设在顶板中心位置的凹槽内底部。
所述底板、中心支撑板、顶板、第一观察室、第二观察室的分布长度均相同。
所述中心支撑板的中心位置的通孔纵截面形状与粒度孔的纵截面形状相同。
所述第一观察室与第二观察室通过中心支撑板隔开。
所述第一抽风机和第二抽风机的设计结构和外观形状相同。
所述光敏接收探头、光敏发光探头和粒度孔中心位置的漏斗型通孔呈同一中心轴设置。
本实用新型有如下优点:
1.本实用新型新颖独特,穿过粒度孔的颗粒会阻挡光线一段时间,进而光敏发光探头发出信号,根据粒度孔尺寸实现待测颗粒的粒度检测,有效解决了现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题,能够提高测量的准确性,还通过在第一观察室和第二观察室均设有抽风机可以实现避免尺寸大于粒度孔的颗粒堵塞粒度孔,因为堵塞时上下位置的抽风机产生的气流可以有效疏通。
2.本实用新型结构简单,部件材质价格低廉,工艺性好,制作成本低,应用性广。
附图说明
图1为本实用新型整体结构剖面图。
图2为本实用新型粒度孔整整体结构。
图3位本实用新型粒度孔纵截面结构图。
图中:1振动器、2连接块、3下固定板、4平衡砝码、5气囊观察室、6上固定板、7入料室、8射线成像头、9基座。
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