[实用新型]一种光敏粒度分析仪有效
申请号: | 201820086200.7 | 申请日: | 2018-01-18 |
公开(公告)号: | CN207730616U | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 张影影 | 申请(专利权)人: | 张影影 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02 |
代理公司: | 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 | 代理人: | 许伯严 |
地址: | 322305 浙江省金华市浦江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光敏 中心支撑板 发光探头 观察室 粒度分析仪 待测样品 接收探头 抽风机 通孔 底部中心位置 底板 容纳 本实用新型 顶板中心 紧固螺钉 粒度检测 中段位置 柱形通孔 左右两侧 漏斗型 内壁 测量 相通 穿过 阻挡 | ||
1.一种光敏粒度分析仪,结构包括:底板(1)、光敏接收探头(2)、第一抽风机(3)、中心支撑板(4)、粒度孔(5)、第二抽风机(6)、顶板(7)、光敏发光探头(8)、待测样品室(9)、本体(10)、第一观察室(11)、第二观察室(12);其特征是:底板(1)设在本体(10)底部,光敏接收探头(2)设在本体(10)底部中心位置的U型孔内,第一抽风机(3)设在第一观察室(11)的左右两侧的中心位置,中心支撑板(4)的两端通过紧固螺钉固定在本体(10)内部中段位置左右两侧的内壁上,所述中心支撑板(4)的中心位置设有容纳粒度孔(5)的通孔,所述粒度孔(5)的中心位置设有漏斗型通孔,第二抽风机(6)设在第二观察室(12)的左右两侧的中心位置,顶板(7)设在本体(10)的顶部,顶板(7)的左侧设有容纳待测样品室(9)底部与第一观察室(11)相通的柱形通孔,光敏发光探头(8)设在顶板(7)中心位置的凹槽内底部。
2.根据权利要求1所述的一种光敏粒度分析仪,其特征在于:所述底板(1)、中心支撑板(4)、顶板(7)、第一观察室(11)、第二观察室(12)的分布长度均相同。
3.根据权利要求1所述的一种光敏粒度分析仪,其特征在于:所述中心支撑板(4)的中心位置的通孔纵截面形状与粒度孔(5)的纵截面形状相同。
4.根据权利要求1所述的一种光敏粒度分析仪,其特征在于:所述第一观察室(11)与第二观察室(12)通过中心支撑板隔开。
5.根据权利要求1所述的一种光敏粒度分析仪,其特征在于:所述第一抽风机(3)和第二抽风机(6)的设计结构和外观形状相同。
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