[实用新型]一种透射电镜试样夹具

说明书

本实用新型公开了一种透射电镜试样夹具，包括夹具本体和样品台，所述夹具本体呈“凹”字型，所述样品台对应的设置在夹具本体的凹槽中，所述夹具本体的中部开有通孔，所述样品台底端中部安装有拉杆，所述拉杆穿过通孔伸出到夹具本体的外侧，且拉杆的两侧在夹具本体上设有弹簧，所述弹簧的底部固定在夹具本体的底部，且弹簧的顶部与样品台相连，所述夹具本体的凹槽上部开有空腔，且夹具本体对应空腔设有两对称设置的限位装置。本实用新型的试样夹具结构简单，夹持固定可靠性高，无需过多精密配合，加工成本低，通过样品台、弹簧和限位装置的配合可实现样品的夹持固定，使用限位装置对样品进行限位阻挡，无需使用粘合剂进行固定，操作简单方便。

技术领域

本实用新型涉及实验设备技术领域，尤其涉及一种透射电镜试样夹具。

背景技术

在材料科学中，透射电子显微方法是十分重要的研究手段。透射电子显微方法用到的重要设备便是透射电子显微镜，透射电镜的成像原理决定了试样的制备要求，制备样品的质量直接影响到试样的观察和分析。试样能够在透射电镜上进行观察的重要前提就是透射电镜的电子束能够穿透样品，并且试样的厚度对透射电镜观察到的图像质量有着非常强烈的影响，这便导致了试样的待观察部位必须够薄，因此透射电镜试样的制备具有较高的难度。

要想得到好的TEM结果，首先要制备出好的薄膜样品，TEM样品制备在电子显微学研究中起着非常重要的作用。透射电镜样品制备要求：(1)供TEM分析的样品必须对电子束是透明的，通常样品观察区域的厚度以控制在约100～200nm为宜。(2)所制得的样品还必须具有代表性以真实反映所分析材料的某些特征。因此，样品制备时不可影响这些特征，如已产生影响则必须知道影响的方式和程度。

块状金属和合金进行透射电镜样品制备的通用方法就是减薄技术，首先将块状样切成约0.3mm厚的均匀薄片，然后使用砂纸和抛光机进行机械预减薄，抛磨至50μm左右，然后进行之后的电解双喷减薄或者离子减薄出小孔。在进行预减薄抛磨时，由于试样过薄无法夹持，在进行抛磨时需要手指进行按压样品在砂纸上进行研磨，经常会出现磨伤手指的情况，所以通常会将薄片试样粘在暖瓶塞子或者橡皮上，手持暖瓶塞子或橡皮在砂纸上进行抛磨，由于粘合与受力不均会导致试样薄区不均匀，且辅助品的磨损很快。

实用新型内容

本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种透射电镜试样夹具，不需要对块状金属进行粘贴固定，保证夹持的可靠性，打磨方便均匀，安全性高。

本实用新型的技术方案是：

一种透射电镜试样夹具，包括夹具本体和样品台，所述夹具本体呈“凹”字型，所述样品台对应的设置在夹具本体的凹槽中，所述夹具本体的中部开有通孔，所述样品台底端中部安装有拉杆，所述拉杆穿过通孔伸出到夹具本体的外侧，且拉杆的两侧在夹具本体上设有弹簧，所述弹簧的底部固定在夹具本体的底部，且弹簧的顶部与样品台相连，所述夹具本体的凹槽上部开有空腔，且夹具本体对应空腔设有两对称设置的限位装置。

优选的，所述限位装置包括挡块、滑杆和推板，所述挡块与滑杆固定连接，所述滑杆穿过夹具本体，且滑杆远离挡块的一端固定有推板。

优选的，所述挡块底部安装有防滑垫片。

优选的，所述样品台与夹具本体的凹槽宽度相匹配。

优选的，所述样品台的顶部固定有橡胶垫。

优选的，所述弹簧的长度与夹具本体相匹配。

本实用新型的有益效果：本实用新型的试样夹具结构简单，夹持固定可靠性高，无需过多精密配合，加工成本低。通过样品台、弹簧和限位装置的配合可实现样品的夹持固定，依靠弹簧的弹力进行夹持，成本较低，使用限位装置对样品进行限位阻挡，无需使用粘合剂进行固定，操作简单方便。

附图说明