[发明专利]一种通过生球表面质量预测回转窑结圈状况的方法及装置

权利要求书

1.一种通过生球表面质量预测回转窑结圈状况的方法，其特征在于，所述方法包括：

获得铁矿粉粒度指数；

获得预热球的抗磨指数；

根据所述铁矿粉粒度指数和所述预热球的抗磨指数，获得生球表面质量指数；

根据所述生球表面质量指数，预测回转窑结圈状况；

其中，所述获得铁矿粉粒度指数，包括：

所述铁矿粉粒度指数根据如下公式计算获得：

其中，D＝∑X_i×d_i,X_i是粒径为d_i的铁矿粉的质量百分比；

所述获得预热球的抗磨指数，包括：

将原始干球放入抗磨指数测量装置中，以一定速度转动15～25min，产生摩擦后的干球；

根据所述摩擦后干球的质量和所述原始干球的质量，获得所述预热球的抗磨指数；

所述根据所述铁矿粉粒度指数和所述预热球的抗磨指数，获得生球表面质量指数，具体根据如下公式获得：

Q＝0.5Q_S+0.5Q_D

其中，Q_S为铁矿粉粒度指数；

Q_D为预热球的抗磨指数。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预热球的抗磨指数根据如下公式计算获得：

Q_D＝10(K-0.9)，

其中，K＝(M₁/M₀)*100％，K为干球抗磨指数；

M₁为摩擦后的干球质量；

M₀为原始干球质量。

3.一种通过生球表面质量预测回转窑结圈状况的装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获得单元，所述第一获得单元用于获得铁矿粉粒度指数；

第二获得单元，所述第二获得单元用于获得预热球的抗磨指数；

第三获得单元，所述第三获得单元用于根据所述铁矿粉粒度指数和所述预热球的抗磨指数，获得生球表面质量指数；

第一预测单元，所述第一预测单元用于根据所述生球表面质量指数，预测回转窑结圈状况；

其中，所述第一获得单元用于：所述铁矿粉粒度指数根据如下公式计算获得：

其中，D＝∑X_i×d_i,X_i是粒径为d_i的铁矿粉的质量百分比；

所述第二获得单元包括：

第一产生单元，所述第一产生单元用于将原始干球放入抗磨指数测量装置中，以一定速度转动15～25min，产生摩擦后的干球；

第四获得单元，所述第四获得单元用于根据所述摩擦后干球的质量和所述原始干球的质量，获得所述预热球的抗磨指数；

所述第三获得单元用于：所述生球表面质量指数具体根据如下公式获得：

Q＝0.5Q_S+0.5Q_D

其中，Q_S为铁矿粉粒度指数；

Q_D为预热球的抗磨指数。