[发明专利]托盘及包含其的芯片测试装置

说明书

本发明公开了一种托盘及包含其的芯片测试装置。所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。该芯片测试装置包括：测试箱，所述测试箱用于测试芯片；如上所述的托盘；传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。托盘中的多个台阶部能够较好地托住芯片，从而使得芯片在测试过程中稳定放置。芯片测试装置可以稳定地传送芯片并且测试芯片。

技术领域

本发明涉及一种托盘及包含其的芯片测试装置。

背景技术

芯片属于非常精密的构件，在对其进行检测时，反复地拿取芯片可能会对芯片造成损害，因此，自动化的芯片检测流程是优选的。但是芯片的稳定放置仍然是一个问题。而且，如何将所检测的芯片与检测结构相对应也是一个问题。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术不能稳定放置芯片的缺陷，提供一种可稳定放置芯片的托盘及包含其的芯片测试装置。

本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

一种托盘，所述托盘用于放置芯片，所述托盘的表面设置一凹槽，所述凹槽的侧面设有多个台阶部，多个所述台阶部位于同一平面上。

优选地，所述凹槽的底面设有通孔。这样芯片放置时不会有空气阻力。

优选地，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上。四边形结构适配芯片的形状，而台阶部设于四个角上，芯片放置时更稳定。

优选地，所述凹槽的底面设有八边形的通孔，所述凹槽为四边形结构，所述台阶部设于所述凹槽的四个角上并形成所述通孔的四条边。

优选地，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的侧面设有向内凹进的第一凹陷部。

优选地，所述凹槽为四边形结构，所述凹槽的四个角均设有向内凹陷的第二凹陷部。

第一凹陷部和第二凹陷部均便于芯片的拿取。

一种芯片测试装置，其包括：

测试箱，所述测试箱用于测试芯片；

如上所述的托盘；

传送机构，所述传送机构用于将所述托盘传送到所述测试箱中；以及

扫码器，所述扫码器设于所述测试箱中；

其中，所述芯片上设有条形码或二维码，所述扫码器能够扫描所述条形码或二维码。

优选地，所述芯片测试装置还包括：读卡器，所述读卡器设于所述传送机构的上游并能够识别所述芯片的型号。

通过设置读卡器和扫码器可以准确识别到底是哪个或哪种芯片被测试，从而准确输出测试结果。

本发明的积极进步效果在于：托盘中的多个台阶部能够较好地托住芯片，从而使得芯片在测试过程中稳定放置。芯片测试装置可以稳定地传送芯片并且测试芯片。

附图说明

图1为根据本发明的优选实施例的托盘的立体结构示意图。

图2为根据本发明的优选实施例的托盘的正视结构示意图。

图3为根据本发明的优选实施例的芯片测试装置的立体结构示意图。

附图标记说明：

托盘10

凹槽11

台阶部12

通孔13