[发明专利]电容测试装置

说明书

本发明提供一种电容测试装置，包含入料模块、预检查模块以及充电测试模块。入料模块用以将多个待测电容分别放置于多个待测位置。预检查模块用以测试所述多个待测位置中的多个待测电容，并判断每一个待测电容是否符合预检查标准。充电测试模块用以对符合预检查标准的待测电容进行充电测试程序。其中，当预检查模块判断所述多个待测电容其中之一不符合预检查标准时，预检查模块将不符合预检查标准的待测电容从对应的待测位置移除。

技术领域

本发明是有关于一种电容测试装置，特别是关于一种在充电测试之前先进行预检查的电容测试装置。

背景技术

随着科技的进步，电子产品种类越来越多且越来越普及。由于每个电子产品中会需要使用数量不一的电容，不可避免地，使得市场对电容的需求量越来越大。目前市场中已经推出了大容量的电容，例如超级电容器(electrostatic double-layer capacitors，EDLC或称双层电容器)，有各种不同的放电时间与电流大小可供选择。

在超级电容器出厂时，可能会经过反复地测试，来检视超级电容器的可靠度。举超级电容器进行老化测试为例，当多个超级电容器批次地测试时，需要使用排架先夹住多个超级电容器的连接脚，再经由高温烤箱烘烤一定时间以模拟超级电容器老化时的状态。此时，排架可能会同时提供电流给被夹住的所有超级电容器，以加速后续检测(例如漏电电流检测)的流程。然而，如果部分的超级电容器的连接脚没有确实被排架夹住，或者部分的超级电容器在运送时连接脚被撞歪、毁损，将使得后续测试不准确，更甚至可能导致测试机台的损坏。

因此，业界需要一种新的电容测试装置，可以在充电测试前，先侦测电容的连接脚是否被确实夹住，并且可以侦测电容的连接脚是否已经损坏。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种电容测试装置，可以在充电测试前，先进行预检查，并对符合预检查标准的电容进行充电。藉此，本发明在发现电容不符合预检查标准后，可以及时停止所述电容的后续测试，以避免测试机台产生非预期的故障或损坏。

本发明提供一种电容测试装置，包含入料模块、预检查模块以及充电测试模块。入料模块用以将多个待测电容分别放置于多个待测位置。预检查模块用以测试所述多个待测位置中的多个待测电容，并判断每一个待测电容是否符合预检查标准。充电测试模块用以对符合预检查标准的待测电容进行充电测试程序。其中，当预检查模块判断所述多个待测电容其中之一不符合预检查标准时，预检查模块将不符合预检查标准的待测电容从对应的待测位置移除。

于一些实施例中，预检查模块可以包含第一电压源、第一电流设定单元以及多个电压检测单元。第一电压源电性连接至每一个待测位置的第一端与第二端，用以提供第一测试电压给每一个待测位置的第一端与第二端。第一电流设定单元用以设定流经每一个待测位置的第一测试电流。每一个电压检测单元电性连接所述多个待测位置其中之一，用以检测所述多个待测位置中的待测电容，是否符合预检查标准。在此，所述多个待测位置其中之一可以定义为第一待测位置，第一电压源与第一电流设定单元分别用以提供第一测试电压与第一测试电流到第一待测位置，且持续一段预设时间。另外，电压检测单元可以判断第一待测位置的第一端与第二端的跨压是否在预设电压范围内，当第一待测位置的第一端与第二端的跨压在预设电压范围内，则第一待测位置中的待测电容符合预检查标准。

于一些实施例中，入料模块用以将所述多个待测电容放置于载盘上的所述多个待测位置，且所述多个待测位置以排列成第一数组。预检查模块可以同时判断第一数组其中一列对应的所述多个待测位置是否符合预检查标准。预检查模块可以标记第一数组中不符合预检查标准的待测位置。

综上所述，本发明提供的电容测试装置具有预检查模块，预检查模块可以在充电测试前，检查待测电容是否符合一定的标准。当预检查模块认为待测电容不符合标准时，将不会继续对待测电容进行充电。藉此，本发明的电容测试装置可以减少电容测试装置在测试电容时损坏的机会。

有关本发明的其它功效及实施例的详细内容，配合附图说明如下。