[发明专利]一种隔膜走带布局方法及其结构

权利要求书

1.一种隔膜走带布局方法，其特征在于：包括以下步骤，

①放卷，隔膜卷料放置在挂轴上放卷成为片状的隔膜料；

②纠偏，纠偏边缘检测机构检测隔膜料边缘是否偏位，偏位则反馈信号到纠偏组件，纠偏组件纠正隔膜料位置；

③不良检测，不良检测机构检测隔膜料品质是否合格；

④静电除尘，离子风除尘静电机构利用离子风进行静电除尘；

⑤张力调整，张力控制及检测机构检测隔膜料张力后根据检测结果控制张力大小；

⑥磁棒除尘，磁棒除尘机构利用磁棒吸附金属粉尘进行磁棒除尘；

⑦防隔膜错位，大包角机构防止隔膜料和过辊脱离时隔膜料边缘错位；

⑧隔膜入料进入卷绕工位。

2.根据权利要求1所述的一种隔膜走带布局方法，其特征在于：在步骤⑥的磁棒除尘后，隔膜料进入中间纠偏机构，入料边缘检测机构检测隔膜料边缘是否偏位，偏位则反馈信号到中间纠偏机构，中间纠偏机构纠正隔膜料边缘位置方便入料。

3.一种隔膜走带布局结构，包括横安装板、挂轴及纠偏组件和大包角机构，横安装板前方左侧安装挂轴及纠偏组件，横安装板前方右侧安装大包角机构，其特征在于：所述挂轴及纠偏组件与大包角机构之间按照隔膜的走料方向依次从左向右安装不良检测机构、纠偏边缘检测机构、压带过辊、离子风除尘静电机构、张力控制及检测机构、中间纠偏机构、磁棒除尘机构、入料边缘检测机构，挂轴将隔膜卷料放卷成为片状的隔膜料，隔膜料进入不良检测机构检测隔膜料品质是否合格，纠偏边缘检测机构检测隔膜料边缘是否偏位并反馈信号到纠偏组件，压带过辊压住极片防止换卷时断带，离子风除尘静电机构利用离子风对隔膜料进行静电除尘，张力控制及检测机构检测并控制张力，入料边缘检测机构检测入料前隔膜料边缘是否偏位并反馈信号到中间纠偏机构，磁棒除尘机构通过磁棒吸附金属粉尘进行磁棒除尘，大包角机构防止隔膜料和过辊脱离时隔膜料边缘错位准确入料。

4.一种隔膜走带布局结构，包括竖安装板、挂轴及纠偏组件和带料过辊，竖安装板前方上侧安装挂轴及纠偏组件，竖安装板前方下侧安装带料过辊，其特征在于：所述挂轴及纠偏组件与带料过辊之间按照隔膜的走料方向从上向下依次安装不良检测机构、纠偏边缘检测机构、压带过辊、离子风除尘静电机构、张力控制及检测机构、大包角机构、中间纠偏机构、磁棒除尘机构、入料边缘检测机构，挂轴将隔膜卷料放卷成为片状的隔膜料，隔膜料进入不良检测机构检测隔膜料品质是否合格，纠偏边缘检测机构检测隔膜料边缘是否偏位并反馈信号到纠偏组件，压带过辊压住极片防止换卷时断带，离子风除尘静电机构利用离子风对隔膜料进行静电除尘，张力控制及检测机构检测并控制张力，大包角机构防止隔膜料和过辊脱离时隔膜料边缘错位准确入料，磁棒除尘机构通过磁棒吸附金属粉尘进行磁棒除尘，入料边缘检测机构检测入料前隔膜料边缘是否偏位并反馈信号到中间纠偏机构纠偏。

5.根据权利要求3或4所述的一种隔膜走带布局结构，其特征在于：所述张力控制及检测机构包括张力传感器和张力控制气缸，张力传感器检测隔膜料的张力大小，张力控制气缸根据检测值控制卷辊的移动来控制张力。

6.根据权利要求3或4所述的一种隔膜走带布局结构，其特征在于：所述纠偏边缘检测机构、入料边缘检测机构通过传感器检测隔膜料边缘是否偏位。

7.根据权利要求3所述的一种隔膜走带布局结构，其特征在于：所述横安装板前方安装有备料挂轴，备料挂轴位于挂轴及纠偏组件左侧。

8.根据权利要求7所述的一种隔膜走带布局结构，其特征在于：所述挂轴及纠偏组件上方安装挂轴按钮控制盒，挂轴按钮控制盒控制挂轴及纠偏组件、备料挂轴。

9.根据权利要求4所述的一种隔膜走带布局结构，其特征在于：所述挂轴及纠偏组件右侧安装有挂轴按钮控制盒，挂轴按钮控制盒控制挂轴及纠偏组件。