[发明专利]受光元件、飞行时间测量装置及光雷达装置有效
| 申请号: | 201811459615.5 | 申请日: | 2018-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN110018488B | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
| 发明(设计)人: | 井口胜次;河西秀典;高桥幸司;藤井宪晃 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
| 主分类号: | G01S17/48 | 分类号: | G01S17/48;G01S7/481 |
| 代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飞亚;习冬梅 |
| 地址: | 日本国大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 元件 飞行 时间 测量 装置 雷达 | ||
1.一种受光元件,通过利用成像光学元件对来自照射区域的反射光进行成像并由受光部接收从而对飞行时间进行计测,所述照射区域接收由脉冲光照射的对象物中的照射,其特征在于,
所述受光部将由多个SPAD(Single Photon Avalanche Diode)构成的多个受光检测元件配置成行和列排列的阵列状,且形成得比由所述对象物的照射区域IA反射并在该受光部中成像的投影部大,
具备用于将所述多个受光检测元件中与所述投影部重叠的一部分的受光检测元件作为受光区域激活的电路,
所述电路在由所述多个受光检测元件构成的多列中,确定在黑暗时脉冲输出的所述受光检测元件的乘法值即暗计数数大于设计值的异常列;
将由所述多个受光检测元件构成的多行的全部激活,且仅将所述多列中的除所述异常列之外的正常列激活,进行对试验体照射所述脉冲光的测试,并在所述正常列中确定由所述反射光产生的光子检测数为设计值以上的受光列;
将所述多行全部激活,且在所述多列中仅将所述受光列激活,进行对测试体照射所述脉冲光的测试,并在所述多行中确定由所述反射光产生的光子检测数为设计值以上的受光行;以及
将确定的所述受光列及所述受光行存储于存储部,
基于存储于所述存储部中的所述受光列和所述受光行,从所述多个受光检测元件中仅选择一部分受光检测元件作为所述受光区域激活。
2.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
具备对来自所述SPAD的脉冲输出进行相加的二进制计数器。
3.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
所述受光部具备多个受光区域,并能够根据状况选择要应用的受光区域。
4.根据权利要求1所述的受光元件,其特征在于,
具备多个所述受光部。
5.一种飞行时间测量装置,其特征在于,至少包含:
脉冲发光元件、偏振分束器、成像光学元件、以及权利要求1至4中任一项所述的受光元件,
所述脉冲发光元件将脉冲光按照所述偏振分束器及所述成像光学元件的顺序穿过而照射于对象物,
来自所述对象物的反射光按照所述成像光学元件及所述偏振分束器的顺序穿过而在所述受光元件上成像,
所述脉冲发光元件及所述受光元件分别配置于所述成像光学元件中的一方的焦点位置。
6.一种飞行时间测量装置,其特征在于,至少包含:
脉冲发光元件、准直透镜、偏振分束器、成像光学元件、以及权利要求1至4中任一项所述的受光元件,
所述脉冲发光元件将脉冲光按照所述准直透镜及所述偏振分束器的顺序穿过而照射于对象物,
来自所述对象物的反射光按照所述偏振分束器及所述成像光学元件的顺序穿过而在所述受光元件上成像,
所述脉冲发光元件配置于所述准直透镜中的一方的焦点位置,
所述受光元件配置于所述成像光学元件中的一方的焦点位置。
7.一种飞行时间测量装置,其特征在于,至少包含:
脉冲发光元件、准直透镜、成像光学元件、以及权利要求1至4中任一项所述的受光元件,
所述脉冲发光元件使脉冲光穿过所述准直透镜而照射于对象物,
来自所述对象物的反射光穿过所述成像光学元件而在所述受光元件成像,
所述脉冲发光元件配置于所述准直透镜中的一方的焦点位置,
所述受光元件配置于所述成像光学元件中的一方的焦点位置。
8.根据权利要求5至7中任一项所述的飞行时间测量装置,其特征在于,
所述脉冲发光元件具备多个发光部。
9.一种光雷达装置,其特征在于,
具备权利要求5至8中任一项所述的飞行时间测量装置。
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