[发明专利]定位系统的定位精度的检测设备、方法及装置

说明书

本发明提供了一种定位系统的定位精度的检测设备、方法及装置，该设备包括：标签支架，定位标签和分析主机，其中，定位标签固定在标签支架上；定位标签用于与待检测的定位系统进行通信，其中，定位标签用于通过与定位系统进行通信使定位系统对定位标签进行定位得到第一定位信息；分析主机用于根据检测到的标签支架的形状信息和/或定位标签的位置信息对定位标签进行定位得到第二定位信息，根据第二定位信息和接收到的定位系统发送的第一定位信息检测定位系统的定位精度。通过本发明，解决了相关技术中对定位系统的定位精度的检测效率较低的问题，进而达到了提高对定位系统的定位精度的检测效率的效果。

技术领域

本发明涉及计算机领域，具体而言，涉及一种定位系统的定位精度的检测设备、方法及装置。

背景技术

定位技术在当今的物联网与互联网时代发展迅速，使很多定位的应用进入了人们的生活，例如导航出行、智能巡检等，这些应用使我们的生活更加便捷。定位系统在部署施工时，施工人员需要对整个系统的定位精度进行测量，通过调试系统使定位精度达到施工要求；定位系统在验收时，验收人员也需要检验定位系统的定位精度是否符合工程要求。传统的定位精度评估方法主要依靠人的主观识别，当定位精度要求较高时，容易出现较大的误差，不满足工程要求。同时没有简便易用的精度测量评估设备，让施工人员或者验收人员可以方便使用，容易减慢工程进度。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种定位系统的定位精度的检测设备、方法及装置，以至少解决相关技术中对定位系统的定位精度的检测效率较低的问题。

根据本发明的一个实施例，提供了一种定位系统的定位精度的检测设备，包括：标签支架，定位标签和分析主机，其中，所述定位标签固定在所述标签支架上；所述定位标签用于与待检测的定位系统进行通信，其中，所述定位标签用于通过与所述定位系统进行通信使所述定位系统对所述定位标签进行定位得到第一定位信息；所述分析主机用于根据检测到的所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述定位标签进行定位得到第二定位信息，根据所述第二定位信息和接收到的所述定位系统发送的所述第一定位信息检测所述定位系统的定位精度。

可选地，所述定位标签包括：多个标签，其中，所述多个标签固定在所述标签支架上的多个位置，所述多个标签中每个标签用于通过与所述定位系统进行通信使所述定位系统对所述每个标签进行定位得到第一信息，所述第一定位信息包括具有对应关系的所述多个标签和多个所述第一信息；所述分析主机用于根据检测到的所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述多个标签中的每个标签进行定位得到所述每个标签对应的第二信息，所述第二定位信息包括具有对应关系的所述多个标签和多个所述第二信息。

可选地，所述标签支架上设置有用于标识所述定位标签所在位置的刻度，所述标签支架上设置有多个弯曲档位，每个所述弯曲档位对应一个目标弯曲角度，所述分析主机用于接收通过读取所述刻度和/或所述弯曲角度输入的输入信息，并根据所述输入信息确定所述第二定位信息。

可选地，所述标签支架上设置有用于检测所述定位标签所在位置的距离传感器，所述标签支架上设置有用于检测所述定位标签所在位置弯曲的角度的角度传感器，所述分析主机用于接收所述距离传感器和/或所述角度传感器传输的传输信息，并根据所述传输信息确定所述第二定位信息。

根据本发明的另一个实施例，提供了一种定位系统的定位精度的检测方法，包括：获取待检测的定位系统传输的第一定位信息，其中，所述第一定位信息是所述定位系统通过与定位标签进行通信对所述定位标签进行定位得到的；检测用于固定所述定位标签的标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息，并根据所述标签支架的形状信息和/或所述定位标签的位置信息对所述定位标签进行定位得到第二定位信息；根据所述第二定位信息和所述第一定位信息检测所述定位系统的定位精度。