[发明专利]一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置

说明书

本发明公开了一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置。其中，该方法包括：初始化BRAM资源所有地址的存储初值；在辐射源打开的情况下，读取BRAM资源预设地址的存储值；将预设地址的存储值与对应的预设地址的存储初值按位进行比较，得到数值不同的位数；在位数小于预设阈值的情况下，记录为存储资源翻转；在位数大于预设阈值的情况下，记录为控制电路翻转。本申请实施例提供的一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置，在对BRAM资源进行辐照试验的过程中，有效的区分了存储资源和控制电路这两种类型的错误，使对BRAM资源进行辐照试验的试验结果更有针对性。提升了辐照试验测试的全面性和有效性，准确的评估FPGA片上BRAM资源的可靠性。

技术领域

本发明属于FPGA测试领域，涉及一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置。

背景技术

航天应用领域中，对集成电路需求不断增加，大规模、高集成度的集成电路越来越普遍，现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，以下简称FPGA)在航天集成电路中占有重要席位。但是，在空间运行的集成电路会直接暴露在空间辐射环境中，辐射产生的效应会造成FPGA性能下降，严重时可能导致功能错误甚至失效。空间辐射效应应分单粒子效应和总剂量效应，单粒子效应对FPGA影响更为明显。因此，FPGA在空间系统应用之前，务必要对其进行充分的辐照试验评估。

FPGA的片上BRAM资源是一种重要的存储器资源，BRAM资源为用户提供数据存储的空间，一旦BRAM资源发生单粒子翻转，可能会造成用户的初始存储数据、中间存储数据或结果存储数据的错误，甚至会造成整个用户系统无法运行。现有技术中，通过在辐射源的照射下，读取BRAM资源的存储值，确定BRAM资源是否发生的单粒子翻转。然而，BRAM资源本身包括存储资源和控制电路两部分，无论哪个部分发生单粒子翻转，其表现都是读取的BRAM存储值发生错误，因此，现有技术中的辐照试验方法无法体现是BRAM资源的存储资源和控制电路中的哪部分发生了单粒子翻转，无法对FPGA进行全面、有效、准确的辐照试验测试。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置，提升了辐照试验测试的全面性和有效性，准确的评估FPGA片上BRAM资源的可靠性。

第一方面，本申请实施例提供了一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法，包括：

初始化BRAM资源所有地址的存储初值；

在辐射源打开的情况下，读取BRAM资源预设地址的存储值；

将所述预设地址的存储值与对应的预设地址的存储初值按位进行比较，得到数值不同的位数；

在所述位数小于预设阈值的情况下，记录为存储资源翻转；

在所述位数大于预设阈值的情况下，记录为控制电路翻转。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值，包括：

将所述预设地址的BRAM资源的存储初值赋值为0x00，且将其他地址的BRAM资源的存储初值赋值为0xFF。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值，包括：

将所述预设地址的BRAM资源的存储初值赋值为0xFF，且将其他地址的BRAM资源的存储初值赋值为0x00。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值，包括：

使用通过原语例化了BRAM资源的配置码流，配置所述被测FPGA。