[发明专利]一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法、系统及装置

权利要求书

1.一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验方法，其特征在于，包括：

初始化BRAM资源所有地址的存储初值，

所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值包括：将预设地址的BRAM资源的存储初值赋值为全0，且将其他地址的BRAM资源的存储初值赋值为全1，

或者，将所述预设地址的BRAM资源的存储初值赋值为全1，且将其他地址的BRAM资源的存储初值赋值为全0；

在辐射源打开的情况下，读取BRAM资源预设地址的存储值；

将所述预设地址的存储值与对应的预设地址的存储初值按位进行比较，得到数值不同的位数；

在所述位数小于预设阈值的情况下，记录为存储资源翻转；

在所述位数大于预设阈值的情况下，记录为控制电路翻转；所述预设阈值为1-7。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值，包括：

使用通过原语例化了BRAM资源的配置码流，配置被测FPGA。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值，包括：

在被测FPGA配置完成后，写入BRAM资源的存储初值。

4.一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验系统，其特征在于，包括：

BRAM资源初始化模块，用于初始化BRAM资源所有地址的存储初值，

所述初始化BRAM资源所有地址的存储初值包括：将预设地址的BRAM资源的存储初值赋值为全0，且将其他地址的BRAM资源的存储初值赋值为全1，

或者，将所述预设地址的BRAM资源的存储初值赋值为全1，且将其他地址的BRAM资源的存储初值赋值为全0；

BRAM资源读取模块，用于在辐射源打开的情况下，读取BRAM资源预设地址的存储值；

数据比较模块，用于将所述预设地址的存储值与所述预设地址的存储初值按位进行比较，得到数值不同的位数；

结果判断模块，用于在所述位数小于预设阈值的情况下，记录为存储资源错误；在所述位数大于预设阈值的情况下，记录为控制电路错误；所述预设阈值为1-7。

5.一种针对FPGA片上BRAM资源的辐照试验装置，其特征在于，包括：

控制处理芯片，用于执行如权利要求1-3任一项所述的辐照试验方法的步骤，还包括用于实现权利要求4所述的系统；

被测FPGA，用于接受辐射源的照射。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于：

所述控制处理芯片与待测FPGA的BRAM使能、地址和数据管脚连接。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于：

所述控制处理芯片与待测FPGA的通用输入输出管脚连接。