[发明专利]半导体器件及其故障检测方法在审
| 申请号： | 201811418423.X | 申请日： | 2018-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN109840226A | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | 山口恭平;川上大辅;浜崎博幸 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F13/26 | 分类号： | G06F13/26 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 中断监测 中断信号 监测周期 电路 半导体器件 监测类型 断言 故障检测 状态检测 中断控制电路 处理器输出 设置电路 中断请求 电路块 监测 | ||
本发明的实施例涉及半导体器件及其故障检测方法。一种半导体器件包括中断控制电路，其从电路块接收多个中断信号并向处理器输出中断请求；以及中断监测电路，其与中断信号中的一个中断信号相对应，并且包括用于设置监测类型以及第一监测周期和第二监测周期的设置电路。如果监测类型指示中断信号的断言状态，则中断监测电路监测该断言状态。如果连续断言状态的第一持续时间超过第一监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。如果监测类型指示中断信号的否定状态，则中断监测电路监测该否定状态。如果连续否定状态的第二持续时间超过第二监测周期，则中断监测电路将该状态检测为故障。
于2017年11月28日提交的包括说明书、附图和摘要在内的日本专利申请号2017-227372的公开内容通过引用整体并入本文。
技术领域
本发明涉及半导体器件和故障检测方法，例如，监测中断信号的半导体器件和故障检测方法。
背景技术
日本未审查专利申请公开号2000-330798公开了一种控制器技术，用于检查对从输入/输出设备到处理器的中断信号的中断控制。日本未审查专利申请公开号2000-330798中的中断控制器包括寄存器，其保存中断信号的历史。在利用中断信号的中断之后，中断控制器参考寄存器的内容对该中断进行检查。
发明内容
然而，在日本未审查专利申请公开号2000-330798中，没有假设中断信号具有各种错误。
将通过本说明书的描述和附图，对其他问题和新特征进行阐明。
根据实施例，一种半导体器件通过根据针对每个中断信号设置的监测类型监测中断信号的特定状态的持续时间来检测故障。
根据该实施例，可以基于多个中断信号的各种错误来检测故障。
附图说明
图1是示出了根据第一实施例的半导体器件的配置的框图；
图2是示出了根据第一实施例的INTC监测器的配置的框图；
图3是示出了根据第一实施例的监测中断信号的断言周期的流程的流程图；
图4是在根据第一实施例的监测中断信号的断言周期时的时序图；
图5是示出了根据第一实施例的监测中断信号的断言周期和否定周期的流程的流程图；
图6是在根据第一实施例的监测中断信号的断言周期和否定周期时的时序图；
图7是示出了根据第二实施例的INTC监测器的配置的框图；
图8是示出了根据第三实施例的INTC监测器的配置的框图；
图9是示出了根据第三实施例的监测中断信号的断言周期和否定周期的流程的流程图；
图10是在根据第三实施例的监测中断信号的断言周期和否定周期时的时序图；
图11是示出了根据第四实施例的INTC监测器和分频器的配置的框图；
图12是示出了根据第五实施例的半导体器件的配置的框图；
图13示出了根据第五实施例的控制寄存器的示例；
图14是示出了根据第五实施例的控制标志确认寄存器的示例的图；
图15是示出了根据第六实施例的视频处理设备的配置的框图；
图16是示出了根据第七实施例的时间触发系统的配置的框图；
图17是示出了根据第七实施例的时间触发系统中的电子控制器的配置的框图；
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