[发明专利]一种太阳能电池片光衰机有效
申请号: | 201811392401.0 | 申请日: | 2018-11-21 |
公开(公告)号: | CN109473371B | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 王永楠;陈健生 | 申请(专利权)人: | 横店集团东磁股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L31/18 |
代理公司: | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人: | 尉伟敏 |
地址: | 322118 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 片光衰机 | ||
本发明涉及一种太阳能电池片的测试装置,尤其是涉及一种太阳能电池片光衰机。一种太阳能电池片光衰机,包括箱体和控制机箱,箱体上设置有转动电机,转动电机的输出轴连接有位于箱体内的光源,箱体内靠近转动电机处围绕光源设置有呈环状的第一支架,箱体内靠近光源远离转动电机的一端设置有与第一支架相配合的第二支架,第一支架与第二支架之间围绕光源设置有多个载片板,载片板的一端转动连接在第二支架上,载片板的另一端与第一支架之间为可拆卸连接,载片板上靠近光源的一侧沿载片板的长度方向设置有多个用于吸附太阳能电池片的吸盘。本发明光源照射均匀,测试效果可靠性高,单次实验电池片数量多,空间利用率高。
技术领域
本发明涉及一种太阳能电池片的测试装置,尤其是涉及一种太阳能电池片光衰机。
背景技术
太阳能电池作为一种可再生清洁能源一直是科学研究的重点,太阳能电池技术也得到了飞速的发展。众所周知,当前光伏市场主流的P型太阳能电池在一定的光照条件下会产生光衰现象,因此,在太阳能电池的研发生产以及二级标片制作,为了探究太阳能电池的稳定性与可靠性,都需要对太阳能电池进行光衰测试。
但是,目前市场上用于光衰测试的设备其光源通常位于电池片正上方,且与电池片平铺于光源下方,电池片位置与光源相对固定,普遍存在光源照射不均匀,散热性差的现象,从而导致测试效果差,可靠性低的问题。同时电池片只能平铺于光源下方,单次实验电池片数少,空间利用率低。
如中国专利公告号为:CN106783665A,于2017年5月31日公告的一种太阳能电池片光衰机,其包括机架、光源箱、灯以及太阳能电池片托板;其中,所述光源箱设置于机架的顶部;所述灯安装于光源箱内的顶部;所述太阳能电池片托板安装于机架上,其位于光源箱的正下方,该装置虽然能控制光强和温度,且能对整个太阳能电池组件作光衰,但是电池片位置和光源相对固定,存在光源照射不均匀的现象,从而导致测试效果差,而且单次实验电池片数量少,空间利用率低。
发明内容
本发明主要是针对上述问题,提供一种光源照射均匀,测试效果可靠性高,单次实验电池片数量多,空间利用率高的太阳能电池片光衰机。
本发明的目的主要是通过下述方案得以实现的:一种太阳能电池片光衰机,包括箱体和控制机箱,所述的箱体上设置有转动电机,所述的转动电机的输出轴连接有位于箱体内的光源,所述的箱体内靠近转动电机处围绕光源设置有呈环状的第一支架,所述的箱体内靠近光源远离转动电机的一端设置有与第一支架相配合的第二支架,所述的第一支架与第二支架之间围绕光源设置有多个载片板,所述的载片板的一端转动连接在第二支架上,所述的载片板的另一端与第一支架之间为可拆卸连接,所述的载片板上靠近光源的一侧沿载片板的长度方向设置有多个用于吸附太阳能电池片的吸盘,所述的转动电机和光源均与控制机箱电连接。箱体上设置有转动电机,转动电机的输出轴连接有位于箱体内的光源,转动电机启动能够带动光源在箱体内转动,光源用于为太阳能电池片模拟太阳光,转动电机和光源均与控制机箱电连接,工作人员通过操作控制机箱能够控制转动电机的转速和光源的功率,箱体内靠近转动电机处围绕光源设置有呈环状的第一支架,箱体内靠近光源远离转动电机的一端设置有与第一支架相配合的第二支架,光源位于第一支架与第二支架的中心轴线处,第一支架与第二支架之间围绕光源设置有多个载片板,载片板的一端转动连接在第二支架上,载片板的另一端与第一支架之间为可拆卸连接,载片板呈长条形结构,载片板上靠近光源的一侧沿载片板的长度方向设置有多个用于吸附太阳能电池片的吸盘,吸盘的设置便于吸附或卸下太阳能电池片,具体操作时,可将载片板沿着与第二支架的连接端翻转至水平便于测试前后的上片与卸片,工作时载片板的上端固定在第一支架上,各载片板依次装置于第一支架和第二支架上,形成一个圆柱,将光源包围,然后启动转动电机,带动光源匀速转动,使光源与太阳能电池片形成周期性相对运动,从而使太阳能电池片获得同剂量的光照量,提高测试的可靠性。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于横店集团东磁股份有限公司,未经横店集团东磁股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811392401.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种晶圆表面颗粒的脱机检测方法
- 下一篇:一种LED电极自动化检测平台
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造