[发明专利]一种液晶面板缺陷检测方法及其系统

说明书

本发明公开了一种液晶面板缺陷检测方法及其系统。液晶面板缺陷检测方法包括步骤：基准图像制作，待检测液晶面板图像制作，识别待检测液晶面板各区域，鉴别缺陷，以及统计缺陷像素数量。液晶面板缺陷检测系统包括API检测装置、拍照镜头、马达、背光区和支撑结构，其中拍照镜头包括偏光片、感光元件。本发明的检测方及其系统，可自动进行过曝拍照和图像对比检测，同时能实现毛刺检查机台所有功能，从而通过仅增加少量生产节拍就能实现液晶面板缺陷检测工序，有效减少整体生产周期，降低设备成本和人力成本，检测准确率更加可控，从而提高检测可靠性。

技术领域

本发明涉及液晶面板缺陷检测技术领域，尤其是涉及一种液晶面板缺陷检测方法及其系统。

背景技术

现行液晶显示屏(Liquid Crystal Display，LCD)产业中针对切割后的液晶面板边缘主要使用专业的毛刺检查(Burr check)设备来检测产品的边缘切割质量，确认有无破边(Chipping)、凸边凸角、平衡度不佳等缺陷。

其中常用的检测方式为使用API(Application Program Interface，应用程序接口)检测系统进行检测，其寻找液晶显示面板中的AA(Active Area，有效显示区域)显示区的方法为采样白画面，相机过曝，结合软件透过灰阶差区分密封(Seal)区与AA显示区后，人工检查各区域缺陷。

该检测方式需另行购置专业毛刺检查机台、产品传送设备，这在一定程度上增加了生产成本。进一步的，其最终需人工检测，而人工检测的准确率不可控，可靠性相对较低，而且检测工序周期长。

因此，确有必要来开发一种新型的检测方法及其系统，来克服现有技术中的缺陷。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供了一种液晶面板缺陷检测方法及其系统，可自动进行过曝拍照和图像对比检测，同时包含API检测装置，能实现毛刺检查机台所有功能，从而可以通过仅增加少量生产节拍就能实现液晶面板缺陷检测工序，有效减少整体生产周期，降低设备成本和人力成本，检测准确率更加可控，从而提高检测可靠性。

本发明的一个实施方式提供了一种液晶面板缺陷检测方法，所述检测方法包括：

S1、基准图像制作步骤，采集基准液晶面板各区域图像，对所述图像进行几何校正及滤波处理，作为对比基准图像，通过软件透过灰阶差区分出所述采集到的各区域图像中的背光(Backlight，BL)区和液晶面板区的边缘界限，记录每一区域像素灰阶值，界定各区域灰阶值范围；

S2、待检测液晶面板图像制作步骤，以过曝状态采集待检测液晶面板图像，并获得各区域的灰阶值范围；

S3、识别待检测液晶面板各区域步骤，将所述待检测液晶面板各区域图像与所述基准图像进行对比分析，根据所述基准图像各区域灰阶值范围识别所述待检测液晶面板图像中的各区域进而获知其背光区和液晶面板区；

S4、鉴别缺陷步骤，分析识别出的所述检测液晶面板区域图像四边的直线度，并与所述基准图像相应位置作比对，当两者的差值超过预定数值时，则认为所述待检测液晶面板存在缺陷，其中所述预定数值在0.1～0.5mm范围内。

进一步的，其中检测出的所述缺陷包括切割精度异常缺陷，其为对比待检测液晶面板图像与对比基准图像的边缘界限，计算所述待检测液晶面板图像中与对比基准图像中面板相应各边的边长偏差值，当任一边长偏差值大于所述预定数值时，其属于切割精度异常缺陷；其中所述预定数值在0.15～0.5mm范围内。

进一步的，其中检测出的所述缺陷包括切凸边凸角缺陷，其为计算待检测液晶面板图像与对比基准图像中相应面板各边的距离，当所述待检测液晶面板区任一边突出所述对比基准面板区相应边的距离数值大于所述预定数值时，其属于凸边凸角缺陷；其中所述预定数值在0.1-0.25mm范围内。