[发明专利]电可擦除可编程只读存储器仿真系统中的动态压缩

说明书

一种电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)仿真(EEE)系统，所述系统包括被布置成具有多个扇区的非易失性存储器，其中每一扇区被布置成具有多个记录位置。将新数据的新记录编程到所述多个扇区中的活跃扇区的记录位置中。在成功完成对所述新记录的所述编程之后，将在所述编程期间的编程失败(FTP)发生的次数与第一阈值进行比较。当FTP发生的所述次数大于所述第一阈值时，进行关于是否需要压缩的确定，并响应于确定需要压缩，方法包含基于第二阈值选择性地执行压缩。

技术领域

本公开大体上涉及电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)仿真(EEE)系统，且更具体地说涉及EEE系统中的动态压缩。

背景技术

EEPROM(电可擦除可编程只读存储器)仿真(EEE)系统是一种非易失性存储器(non-volatile memory，NVM)，所述非易失性存储器使用非EEPROM型存储器提供字节和/或字编程和擦除能力。举例来说，易失性随机存取存储器(random access memory，RAM)可连同NVM(例如快闪存储器)一起使用以提供EEE系统。

在现有EEE系统技术中，对于包含压缩或擦除以及新数据写入(其中将一个新NVM记录编程到快闪中)的每一EEE写入，在新数据的EEE写入之前，进行检查以确定是否需要压缩或擦除。如果需要压缩或擦除，那么首先执行所述压缩或擦除，且然后写入具有新数据的新NVM记录。在压缩期间，针对活跃扇区进行有效记录的复制。归因于通常被称为诱捕(trap-up)和编程干扰的机制，随着编程/擦除循环增加，编程失败(FTP)发生也增加。FTP发生的增加使进行EEE写入的时间增加，因此降低EEE性能且潜在地超出EEE写入的规格(specification，spec)时间。由于在写入具有新数据的新记录之前进行压缩，所以如果在压缩期间超出spec时间，那么便导致失败，这是因为在spec时间中没有剩余用以执行新记录到活跃扇区中的写入的充足时间。因此，需要通过确保即使随着编程/擦除循环计数增加，创建具有新数据的新记录也不超出EE写入的spec时间来改进EEE系统的性能。

发明内容

根据本发明的第一方面，提供一种在具有被布置成具有多个扇区的非易失性存储器的电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)仿真(EEE)系统中的方法，每一扇区被布置成具有多个记录位置，所述方法包括：

将新数据的新记录编程到所述多个扇区中的活跃扇区的记录位置中；

在成功完成对所述新记录的所述编程之后，将在所述编程期间的编程失败(FTP)发生的次数与第一阈值进行比较；

当FTP发生的所述次数大于所述第一阈值时：

确定需要压缩，以及

响应于确定需要压缩，基于第二阈值选择性地执行压缩。

在一个或多个实施例中，所述方法进一步包括：

当FTP发生的所述次数小于所述第一阈值时：

确定需要压缩，

响应于确定需要压缩，开始压缩，以及

在所述压缩期间，在完成所述压缩之前中止所述压缩。

在一个或多个实施例中，确定需要压缩包括确定所述多个扇区中的最早充满扇区包含至少一个有效记录。

在一个或多个实施例中，响应于确定以下情况而执行所述中止所述压缩：

在执行对所述新记录的所述编程之后且从开始所述压缩起在执行所述压缩的起始部分之后，保持在一个EEE写入操作的规格时间内的EEE写入的剩余时间小于写入单一记录所要求的典型时间，以及

所述多个扇区中准备存储新记录的扇区的数量大于第二阈值。