[发明专利]一种RFID读写器性能测试方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种RFID读写器性能测试方法，其特征在于，包括：

获取校准测试项，对待测试的RFID读写器进行校准测试；

根据校准测试结果调整所述RFID读写器的可调功率增益；

判断调整后的所述RFID读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值；

若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述RFID读写器进行校准测试，具体包括：

根据所述校准测试项设置所述RFID读写器的参数；

控制所述RFID读写器以所述目标功率发送射频信号；

根据接收到的所述射频信号的实际功率以及所述RFID读写器的内部器件获得的所述射频信号的信号参数，获得所述RFID读写器的校准系数；

其中，所述校准测试结果包括所述校准系数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述判断调整后的所述RFID读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值，具体包括：

获取发送功率测试项，根据所述发送功率测试项设置所述RFID读写器的参数；

控制所述RFID读写器以所述目标功率发送射频信号；

获取接收到的所述射频信号的实际功率；

判断所述目标功率与所述实际功率之差是否小于阈值。

4.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述其他测试项包括接收灵敏度测试项，所述接收灵敏度测试项测试时所述方法包括：

控制外部信号发射装置向所述RFID读写器发送预设数目的模拟标签数据包；

获取所述RFID读写器正确解析所述模拟标签数据包的数目；

对比所述预设数目和所述数目，获得所述RFID读写器的接收灵敏度。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获得所述RFID读写器的校准系数之前，所述方法还包括：

控制外部信号发射装置转换工作模式；

通过转换的外部信号发射装置接收所述射频信号；

并基于所述外部信号发射装置对所述射频信号进行分析获得所述实际功率。

6.如权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述其他测试项还包括接发送功率反向校准测试项、频率容限测试项、占用带宽测试项、频谱模板测试项以及射频包络测试项，所述其他测试项中的每一测试项按照预设测试顺序依次进行测试。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述RFID读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差大于等于阈值，所述方法还包括：

重新对所述RFID读写器进行所述校准测试项测试，若所述校准测试项测试的重测次数达到预设次数时，所述RFID读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差仍大于等于阈值，则结束测试。

8.一种RFID读写器性能测试装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取校准测试项，对待测试的RFID读写器进行校准测试；

调整单元，用于根据校准测试结果调整所述RFID读写器的可调功率增益；

判断单元，用于判断调整后的所述RFID读写器发送的射频信号的目标功率与实际功率之差是否小于阈值；若是，则选择其他测试项进行测试，直到所有测试项测试完毕。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述获取单元，用于：

根据所述校准测试项设置所述RFID读写器的参数；

控制所述RFID读写器以所述目标功率发送射频信号；

根据接收到的所述射频信号的实际功率以及所述RFID读写器的内部器件获得的所述射频信号的信号参数，获得所述RFID读写器的校准系数；

其中，所述校准测试结果包括所述校准系数。