[发明专利]印刷电路板图像轮廓提取方法及装置

权利要求书

1.一种印刷电路板图像轮廓提取方法，其特征在于，所述方法包括：

获取原始灰度图像；

将所述原始灰度图像进行二值化处理，输出二值化灰度图像；

利用LOG算子对所述二值化灰度图像进行卷积处理，得到与像素点相对应的卷积数据；

判断所述卷积数据的值是否为零，如果为零，确定与所述卷积数据对应的像素点为边缘点；如果不为零，利用亚像素点插值法计算得到与所述卷积数据对应的亚像素边缘点；

利用Sobel算子计算所述边缘点的梯度和幅值，根据所述边缘点的梯度和幅值确定落在所述边缘点的所述亚像素边缘点的梯度和幅值；

根据所述边缘点、所述亚像素边缘点、所述边缘点的梯度和幅值以及所述亚像素边缘点的梯度和幅值，得出所述原始灰度图像的轮廓；

所述利用亚像素点插值法计算得到与所述卷积数据对应的亚像素边缘点，包括：

判断所述卷积数据为负值的像素点的向上、向下、向左以及向右四个方向上是否存在所述卷积数据为正值的像素点，如果存在所述卷积数据为正值的像素点，根据所述卷积数据为负值的像素点和所述卷积数据为正值的像素点利用亚像素点插值法计算得到与所述卷积数据对应的亚像素边缘点；

判断所述卷积数据为负值的像素点的向上、向下、向左以及向右四个方向上是否存在多个所述卷积数据为正值的像素点，如果存在多个所述卷积数据为正值的像素点，分别计算得到多个与所述卷积数据对应的亚像素点，取多个与所述卷积数据对应的亚像素点的平均值为与所述卷积数据对应的亚像素边缘点；

判断所述卷积数据为正值的像素点是否存在落在所述卷积数据为正值的像素点上的亚像素边缘点，如果不存在，选取所述卷积数据为正值的像素点的向上、向下、向左以及向右四个方向上的所述卷积数据为负的最大值的像素点为偏移点，将所述卷积数据为正值的像素点向所述偏移点偏移预设个数像素为所述卷积数据对应的亚像素边缘点。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述原始灰度图像进行二值化处理，输出二值化灰度图像包括：

获取低阈值和高阈值；

判断低阈值和高阈值的大小关系；

获取所述像素点的灰度值以及所述像素点3*3邻域内的所有邻域像素点的灰度值；

判断所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系；

根据低阈值和高阈值的大小关系和所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系，确定所述像素点的灰度值，包括：

如果低阈值小于或等于高阈值，根据所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系，确定所述像素点的灰度值，包括：

如果所述领域像素点的灰度值均小于低阈值，所述像素点的灰度值取值为1，如果所述领域像素点的灰度值均大于高阈值，所述像素点的灰度值取值为254，否则，保持所述像素点的灰度值不变；

如果低阈值大于高阈值，定义两个初始化变量bInLow和bInHigh，且初始化为假，根据所述邻域像素点的灰度值与低阈值和高阈值的大小关系，确定所述像素点的灰度值，包括：

如果所述领域像素点的灰度值均小于低阈值，标记bInLow为真，如果所述领域像素点的灰度值均大于高阈值，标记bInHigh为真；

如果bInLow为真且bInHigh为否，所述像素点的灰度值取值为1，如果bInLow为否且bInHigh为真，所述像素点的灰度值取值为254，否则，保持所述像素点的灰度值不变。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用LOG算子对所述二值化灰度图像进行卷积处理，得到LOG卷积标记结果，包括：

根据卷积模板使用卷积公式对所述二值化灰度图像进行卷积处理；

其中，所述卷积模板为：。