[发明专利]一种用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具及测试方法

说明书

本申请公开了一种用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具，包括壳体、位置调节部件、接线夹、按键。位置调节部件沿壳体一面的滑槽贴合滑动，位置调节部件的滑动条开有固定孔，用于插入石英晶体引脚；接线夹受力端通过连接部件与壳体外部固定的按键连接，用于控制接线夹咬合端的开关，石英晶体引脚插入固定孔再继续插入接线夹咬合端即可接入测试系统。本申请还包含测试方法，调整固定孔间距与晶体引脚间距适配并固定，再调整按键打开咬合端插入石英晶体引脚。本发明可解决石英晶体测试中受外力影响、测试结果不稳定的问题，实现测试重复性高的用于石英晶体测试系统的π网络夹具。

技术领域

本申请涉及晶体参数测试领域，尤其涉及一种石英晶体参数测试装置及测试方法。

背景技术

石英晶体测试系统在参数测试中需要使用特殊的测试夹具，称为π网络夹具。

目前，现有技术的直插式π网络夹具使用接触簧片，带来测试误差大的问题。由于接触簧片是常闭状态，接入晶体时需要用晶体引脚用力插入，外力会对晶体本身结构造成影响，且对精密的标准晶体长期漂移特性影响大；晶体结构形变导致测量结果变化大。另外，同一晶体多次插入夹具的位置不定、接触簧片不易清洁，也导致对测试结果不利影响。

因此，对于石英晶体测试系统测试夹具，需解决石英晶体引脚插入处开关的可控性，外力破坏晶体特性的问题，实现重复性高的用于石英晶体测试系统的π网络夹具。

发明内容

为解决石英晶体参数测试系统的稳定性低、测试结果不准确的问题，本申请提出一种用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具及测试方法。

本申请实施例提供一种用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具，实现π网络测试电路，包括壳体、位置调节部件、接线夹；所述壳体开有滑槽；所述位置调节部件，包括至少一个滑动条，沿所述滑槽贴合滑动；每个所述滑动条开有固定孔，用于插入所述石英晶体的一只引脚；所述接线夹包括咬合端口、接线端、受力端，所述咬合端口和所述接线端电气连通，所述接线端与所述测试电路连接；所述咬合端口用于夹住穿过所述固定孔的石英晶体引脚，加载测试信号；

优选地，所述π网络夹具还包含按键，所述按键固定于壳体外表面；所述受力端与所述按键机械连接，用于控制所述咬合端口的开合。

作为本申请进一步优化的实施例，所述用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具中，所述位置调节部件还包括卡具，用于固定所述滑动条的位置。

作为本申请进一步优化的实施例，所述用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具中，所述机械连接的方式是用硬力矩结构。

作为本申请进一步优化的实施例，所述用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具中，所述机械连接的方式是用弹性结构。

作为本申请进一步优化的实施例，所述用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具中，所述壳体材料为屏蔽金属材料，其表面涂绝缘涂料。

作为本申请进一步优化的实施例，所述用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具中，所述滑动条为屏蔽金属材料，其表面涂绝缘涂料。

作为本申请进一步优化的实施例，所述用于石英晶体参数测试系统的π网络夹具中，所述受力端由绝缘材料包裹。

本申请实施例还提供一种石英晶体参数测试方法，包括以下步骤：

移动所述至少一个滑动条，调整所述固定孔的位置，与晶体引脚间距适配；

将所述石英晶体引脚插入所述固定孔中,并用所述卡具固定滑动条；

通过按键，打开所述咬合端口，夹持所述石英晶体引脚，使所述石英晶体主体下表面与所述滑动条贴合。