[发明专利]一种用于晶闸管电子板老化试验的装置在审
| 申请号: | 201811285654.8 | 申请日: | 2018-10-31 |
| 公开(公告)号: | CN111123067A | 公开(公告)日: | 2020-05-08 |
| 发明(设计)人: | 刘道民;朱宁辉;高岩;张彬;王海龙;王蓓蓓;汪权;袁洪亮 | 申请(专利权)人: | 中电普瑞科技有限公司;南瑞集团有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐国文 |
| 地址: | 102200 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 晶闸管 电子 老化试验 装置 | ||
1.一种用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,可对多个二合一晶闸管电子板进行测试,所述装置包括:阀控制设备和至少一个包括两只正反向并联晶闸管的晶闸管阀层;所述晶闸管阀层的数量为被测晶闸管电子板的数量减1;
每个所述晶闸管阀层的两只晶闸管分别与相邻的两个被测晶闸管电子板并联;
所述阀控制设备通过光纤与每个被测晶闸管电子板连接,并向所述每个被测晶闸管电子板发送触发信号;所述每个被测晶闸管电子板基于所述触发信号触发与所述每个被测晶闸管电子板连接的两个晶闸管;
基于所述晶闸管的导通情况确定所述每个被测晶闸管电子板是否存在故障。
2.根据权利要求1所述的用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,还包括多个直流均压电阻;所述直流均压电阻与每个被测晶闸管电子板串联,用于确保每层晶闸管端电压相同。
3.根据权利要求1所述的用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,
多个晶闸管阀层串联组成晶闸管阀组;
多个晶闸管阀组并联组成晶闸管阀串。
4.根据权利要求3所述的用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,每个所述晶闸管阀组中,包括:首端晶闸管阀层、中间晶闸管阀层和尾端晶闸管阀层;所述中间晶闸管阀层包括从第二至倒数第二的晶闸管阀层;
所述首端晶闸管阀层的正向/反向晶闸管连接第一被测晶闸管电子板,所述首端晶闸管阀层的反向/正向晶闸管连接第二被测晶闸管电子板;
所述中间晶闸管阀层的两个晶闸管分别连接从第二被测晶闸管电子板开始的两个相邻被测晶闸管电子板;
所述尾端晶闸管阀层的反向/正向晶闸管连接倒数第一被测晶闸管电子板;所述尾端晶闸管阀层中的正向/反向晶闸管连接倒数第二被测晶闸管电子板。
5.根据权利要求3所述的用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,所述基于所述晶闸管的导通情况确定所述每个被测晶闸管电子板是否故障,包括:
基于每个晶闸管阀组回路电流波形是否正常,判断所述晶闸管阀组中是否存在未正常触发的晶闸管;
根据判断结果,确定所述晶闸管阀组中存在故障的被测晶闸管电子板。
6.根据权利要求5所述的用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,所述基于每个晶闸管阀组回路电流波形是否正常,判断所述晶闸管阀组中是否存在未正常触发的晶闸管,包括:
当所述晶闸管阀组回路电流波形与输入电流波形一致时,所述晶闸管阀组中不存在未正常触发的晶闸管;
当所述晶闸管阀组回路无电流波形或只有一半波形时,所述晶闸管阀组中存在未正常触发的晶闸管。
7.根据权利要求6所述的用于晶闸管电子板老化试验的装置,其特征在于,所述根据判断结果,确定所述晶闸管阀组中存在故障的被测晶闸管电子板,包括:
当所述晶闸管阀组中存在未正常触发的晶闸管时,依次短接所述晶闸管阀组中各个晶闸管阴极阳极两端;
每短接一个晶闸管,阀控制设备发送一次触发信号,并检测触发后所述晶闸管阀组的回路电流是否输入电流波形一致;
当所述晶闸管阀组的回路电流与输入电流波形一致时,确定所述短接的晶闸管连接的被测晶闸管电子板存在故障。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中电普瑞科技有限公司;南瑞集团有限公司,未经中电普瑞科技有限公司;南瑞集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201811285654.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:社区发现方法、装置及设备
- 下一篇:脱硫催化剂、其制备方法及烃油脱硫的方法





