[发明专利]触摸屏校准方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种触摸屏校准方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

获取多次触控操作的触控参数，包括：

对所述触摸屏预先划分的多个区域，统计每一个区域内监测到的触控操作次数；

当存在触控操作次数达到目标次数的目标区域时，获取所述目标区域内监测到的各次触控操作的触控参数；

比较所述多次触控操作的触控参数与预设的触控阈值之间的差异；其中，所述触控阈值，用于根据所述触控阈值与触控参数之间的大小关系，判断是否响应相应的触控操作，所述预设的所述触控阈值为获取位于所述目标区域边缘处各触控点的触控阈值，根据所述目标区域边缘处各触控点的触控阈值的平均值进行确定；

若所述差异大于预设误差值，根据所述多次触控的触控参数对所述触控阈值进行校准。

2.根据权利要求1所述的触摸屏校准方法，其特征在于，所述获取多次触控操作的触控参数，包括：

监测所述触摸屏中各触控点的电容值；

每当监测到存在电容值增大的触控点时，确定监测到一次触控操作；

将增大的电容值作为监测到的触控操作的触控参数。

3.根据权利要求1所述的触摸屏校准方法，其特征在于，所述比较所述多次触控操作的触控参数与预设的触控阈值之间的差异，包括：

确定所述目标区域内监测到的各次触控操作的触控参数平均值；

计算所述触控参数平均值与所述预设的触控阈值之间的差值。

4.根据权利要求3所述的触摸屏校准方法，其特征在于，所述根据所述多次触控的触控参数对所述触控阈值进行校准，包括：

将所述目标区域内各触控点的触控阈值校准为所述目标区域内监测到的各次触控操作的触控参数平均值。

5.一种触摸屏校准装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取多次触控操作的触控参数，所述获取模块包括：

统计单元，用于对所述触摸屏预先划分的多个区域，统计每一个区域内监测到的触控操作次数；

获取单元，用于当存在触控操作次数达到目标次数的目标区域时，获取所述目标区域内监测到的各次触控操作的触控参数；

比较模块，用于比较所述多次触控操作的触控参数与预设的触控阈值之间的差异；其中，所述触控阈值，用于根据所述触控阈值与触控参数之间的大小关系，判断是否响应相应的触控操作，所述预设的所述触控阈值为获取位于所述目标区域边缘处各触控点的触控阈值，根据所述目标区域边缘处各触控点的触控阈值的平均值进行确定；

校准模块，用于若所述差异大于预设误差值，根据所述多次触控的触控参数对所述触控阈值进行校准。

6.根据权利要求5所述的触摸屏校准装置，其特征在于，所述获取模块具体用于：

监测所述触摸屏中各触控点的电容值；每当监测到存在电容值增大的触控点时，确定监测到一次触控操作；将增大的电容值作为监测到的触控操作的触控参数。

7.一种电子设备，其特征在于，包括：触摸屏、存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，实现如权利要求1-4中任一所述的触摸屏校准方法。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一所述的触摸屏校准方法。