[发明专利]一种通过数据库管理测试参数信息的系统及方法

说明书

本发明公开一种通过数据库管理测试参数信息的系统，包括与测试机配套的数据库以及与数据库相关联的前端界面；操作人员通过操作前端界面查看和修改数据库中的信息。本发明提供了一种使用数据库管理测试参数的软件，用户通过操作前端界面，前端界面与数据库相关联，从而达到操作前端界面来查看或者修改数据库中的信息，保证了数据的安全性，同时能够提升效率。

技术领域

本发明涉及半导体测试信息软件管理领域，具体的说是一种通过数据库管理测试参数信息的系统及方法。

背景技术

在半导体的生产领域中需要对半导体进行各项数据的测试，因此会得到各种半导体的测试数据，通常这些测试参数信息通过操作人员的各个计算机系统直接管理，但是现有技术中这种直接管理测试参数信息的方式存在着较大的弊端，其中最大的缺点就是会导致数据的不安全，容易使数据出现错误丢失，而且数据汇总过程也比较的繁琐，严重影响工作效率；而且如果各个计算机系统对操作权限不加以限制可能会导致很多信息的错误操作，非常影响正常测试参数信息的管理调用。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术存在的不足，提供一种通过数据库管理测试参数信息的系统及其方法及其制备方法。

技术方案：本发明解决问题所采用的技术方案为：一种通过数据库管理测试参数信息的系统，包括与测试机配套的数据库以及与数据库相关联的前端界面；操作人员通过操作前端界面查看和修改数据库中的信息。

其中，操作人员通过操作前端界面可上传、查看和修改数据库中的Specsheet、ProductInfo、GU以及PCB相关信息；并且具备查询不同版本的Specsheet数据进行数据对比以及查询上传Specsheet时保存LOG信息的功能。

其中，所述的数据库中设置有九张表(九张表的意思是什么，是“信息表”之类的意思吗，能否修改为本领域的专业术语)，分别为tblSpecsheet_RFPASW，tblSpecsheetLog，tblProductInfo，tblFieldHistory，tblGU，tblPCb，tblCustomer，tblUser，tblApplication。

其中，所述的tblSpecsheet_RFPASW用于记录PA和Switch产品的Specsheet，并且以CustomerName、ProductNumber、SpecRev以及SN作为主键的唯一记录；所述的tblSpecsheetLog用于记录上传Specsheet的log记录；所述的tblProductInfo用于记录产品的信息，并且以CustomerName和PartNumber作为主键确定唯一记录的值；所述的tblFieldHistory用于记录字段中可以选择填写的下拉列表选项，并且以FieldName作为主键唯一记录；所述的tblGU用于记录产品的GU值；所述的tblPCB用于记录测试版的插损值；所述的tblCustomer用于记录客户的信息；所述的tblUser用于记录用户的信息；所述的tblApplication用于记录审批流程的相关信息。

本发明还提供一种通过数据库管理测试参数信息的方法，包括以下步骤：

(1)通过前端界面的登录界面登陆系统，用户需正确的输入工号以及密码，根据权限设置的不同，拥有管理员权限的进入审核界面和用户管理界面，普通用户则进入申请界面；

(2)普通用户的申请界面显示当前用户提交的所有的申请记录，该申请记录共分为三类：Current Valid Request表示当前有效的申请记录；Unaudited Request显示该用户等待审核的申请记录；Expired Request表示用户无效的申请记录；