[发明专利]长波红外相机辐射定标数据修正方法有效

专利信息
申请号: 201811189724.X 申请日: 2018-10-12
公开(公告)号: CN109341863B 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: 何军;林两魁;汪少林;代海山;杨春燕 申请(专利权)人: 上海卫星工程研究所
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 长波 红外 相机 辐射 定标 数据 修正 方法
【说明书】:

发明提供了一种长波红外相机辐射定标数据修正方法,包括:长波红外相机对变温黑体的不同温度成像,获取辐射定标数据data1;通过杂散光分析,获取长波红外相机内部杂散辐射的主要来源;长波红外相机对变温黑体某一固定温度成像,获取成像数据data2;改变长波红外相机内部杂散辐射源的温度,分别获取成像数据data3;对成像数据data2进行处理,得到长波红外相机探测器焦面温度变化对成像数据data2修正关系△DNd;对成像数据data3进行处理,得到长波红外相机等效主体温度及对成像数据data3修正关系△DNs;利用修正关系△DNd、△DNs,修正辐射定标数据data1。本发明提升了长波红外相机辐射响应线性度,大幅度提高了对不同温度目标的识别能力,为精准的定量化反演工作奠定基础。

技术领域

本发明涉及辐射定标领域,具体地,涉及长波红外相机辐射定标数据修正方法。

背景技术

碲镉汞(HgCdTe)三元化合物是一种最理想的红外探测材料,具有无可替代的地位。由于长波碲镉汞材料的禁带宽度极窄,材料中的微量位错、缺陷、杂质以及热应力等都将对探测器的性能产生决定性的影响,导致探测器芯片暗电流、噪声增大,甚至引起器件失效,因此,相机主体内部的辐射杂光或探测器焦面温度的波动对探测器输出信号影响较大。为了获取真实有效的图像输出,不仅对碲镉汞探测器芯片的制备工艺提出了更高的要求,还需要对红外探测器进行精确辐射定标,在定标过程中对集成后的相机如何进行关键部件温度修正成为长波红外相机辐射定标技术难点之一。

发明内容

针对现有技术中的缺陷,本发明的目的是提供一种长波红外相机辐射定标数据修正方法。

根据本发明提供的一种长波红外相机辐射定标数据修正方法,包括:

步骤一,长波红外相机对变温黑体进行不同温度成像,获取辐射定标数据data1;

步骤二,通过杂散光分析,获取长波红外相机内部杂散辐射的主要来源;

步骤三,长波红外相机对变温黑体固定温度进行成像,获取成像数据data2;改变长波红外相机内部杂散辐射源的温度,获取成像数据data3;

步骤四,对成像数据data2进行处理,得到长波红外相机探测器焦面温度变化对成像数据data2的修正关系△DNd

步骤五,对成像数据data3进行处理,得到长波红外相机等效主体温度对成像数据data3的修正关系△DNs

步骤六,利用修正关系△DNd、△DNs,修正辐射定标数据data1。

优选地,所述步骤一中的对变温黑体进行不同温度成像,是在真空罐内进行的。

优选地,所述步骤一中辐射定标数据data1,去除了长波红外相机暗背景噪声。

优选地,所述暗背景噪声,在对变温黑体的不同温度成像前分别获取。

优选地,所述步骤三中的成像数据data2,成像时长至少为长波红外相机单次成像最大时长的2~3倍。

优选地,所述步骤五中的对成像数据data3进行处理,采用加权法得到长波红外相机内部杂散辐射源等效温度,采用最小二乘法得到内部杂散辐射源变温修正系数。

优选地,长波红外相机探测器焦面温度变化对成像数据data2的修正关系△DNd

△DNd=K2·(T-Td) (1)

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