[发明专利]天线装置以及测量方法

说明书

本发明提供天线装置，在被测量装置的发送接收性能的评价中，能够在近场进行EVM的测量，同时能够在近场测量被测量装置的接收灵敏度。用于评价具有以规定的间隔排列的多个天线元件构成的阵列天线(110)的被测量装置的发送特性或者接收特性的天线装置，包括：天线(210)，接收被测量装置经由阵列天线发射的调制信号、或者对阵列天线发射调制信号；移动装置(200)，使天线在形成与配置了多个天线元件的阵列天线的平面平行的xy面的相互垂直的x轴和y轴、与该平面垂直的z轴的方向上移动；以及控制单元(500)，进行控制，以通过移动装置，使天线移动到近场的区域内调制信号的群延迟失真降低的位置。

技术领域

本发明涉及天线装置以及测量方法。

背景技术

正在研究在与大规模MIMO(MassiveMIMO)或波束成形对应的基站中，多个天线元件被排列为格子状的大规模阵列天线的利用。天线元件的数目具体地说为16×16或64×64等。

在这样的毫米波段的大规模的阵列天线中，难以与发送接收的RF电路分离而仅测量天线，希望建立通过测量在大气中传播的信号，测量阵列天线的激振状态的技术。

而且，在这样的毫米波段的大规模的阵列天线中，难以与发送接收的RF电路分离而测量发送接收装置的性能，希望建立通过供给在大气中传播的信号，评价接收灵敏度等接收系统的性能的技术。

【现有技术文献】

【专利文献】

日本专利申请特愿2016－63628号

发明内容

发明要解决的课题

在将发送接收机不与被测量天线分离的发送接收装置作为被测量装置的发送接收性能的评价中，以往，在作为发送评价的一个项目的指向性评价中使用了近场测量。在通过近场测量求出远场指向性时，通常，沿着从被测量天线离开3λ左右的面扫描探测器天线。这里，λ是从发送信号的频率求出的波长。这是因为，若离被测量天线的距离接近，则被测量天线和探测器天线间的多重反射等对测量结果产生影响，若离被测量天线的距离变远，则从被测量天线发送的信号衰减，测量结果受到噪声的影响。

但是，在被测量装置的发送接收性能的评价中，对于发送装置的评价不仅评价发送信号的指向性，还需要EVM(调制精度)，除了发送信号的指向性之外，未建立近场中的测量方法，所以EVM在受到电平的衰减导致的噪声的影响的远场中进行测量。而且，对于被测量装置的接收评价，还需要被测量装置接受了信号时的接收灵敏度评价，除了发送信号的指向性之外，未建立近场中的测量方法。与发送评价时相同，在接收评价时，被测量装置也是被测量天线和接收机为一体的装置，不能拆下来测量，而对于被测量装置的接收灵敏度，测量从远场发射的信号来进行计算。

例如在天线元件的排列为4行×4列的情况下，在元件间隔设为λ/2时，远场的距离为8λ，在16行×16列的情况下为128λ。这在16行×16列的情况下在28GHz下为1.4m左右，但在3GHz下相当于12.8m。这样，由于频率，必须从被测量天线在远方设置探测器天线。在从被测量天线在远方设置了探测器天线的远场下的测量中，受到电平的衰减造成的噪声的影响的EVM的测量的不确定性增大。而且，在被测量装置的接收性能的评价中，也与发送性能的评价相同，由于频率，从被测量装置在远方，必须设置用于对被测量装置发射信号的发送探测器天线。

进而，若与近场中的测量比较，在远场测量中，具有被测量天线的被测量装置与发送或者接收中使用的探测器天线离开距离，所以覆盖被测量装置和发送接收用探测器天线的电波暗箱需要大型的，存在测量系统变大的问题。