[发明专利]一种绝对定位传感器检测系统

说明书

本发明公开了一种绝对定位传感器检测系统，其包括测试线圈、上位机以及，与所述测试线圈相连的测试线圈驱动单元；其中，所述测试线圈，用于模拟电感变化；所述测试线圈驱动单元，用于驱动所述测试线圈通断；所述上位机，用于处理绝对定位传感器的信号。本发明的有益效果为：该检测系统采用上位机和电感模拟装置闭环控制的方式，克服了针对传感器检测时需要建造体积较大、成本较高、且只能进行低速检测设备的缺点；该检测系统可以便捷的模拟电感变化环境，根据自主需求控制电感变化速度与变化模式，能够模拟较高速度的电感变化，进而达到绝对定位传感器的便捷、多模式的可靠性测试。

技术领域

本发明涉及传感器检测系统的技术领域，特别涉及一种绝对定位传感器检测系统。

背景技术

目前常见的磁悬浮列车在悬浮于长定子结构的轨道运行时，需要使用相对位置传感器检测列车与长定子结构的相对位置，但该传感器存在累计误差，因此，在线路一定距离需要布置有特定编码表示的标志板，通过使用绝对定位传感器来识别标志板的信息，记录列车的行进里程，并对用于检测列车相对位置的传感器进行位置修正。为保证传感器可靠正确工作，需要有专门设备对传感器进行检测。目前针对该类传感器的检测方法是建设有滑轨结构的试验台，通过电机带动传感器或标志板运动进行检测。但此方案考虑到试验台成本、尺寸、部件参数和安全性等因素，只能进行较低运动速度下的测试，无法进行传感器较高运行速度的检测。

因此，如何提供一种能够通过多电感线圈按一定速度切换的方法，解决对绝对定位传感器进行检测时的问题；能够通过模拟电感变化环境，节省传感器实际应用环境搭建所需成本；能够进行绝对定位传感器的功能、性能测试，提高传感器检测效率，能够模拟较高速度下绝对定位传感器的测量的绝对定位传感器检测系统是本领域技术人员目前需要解决的重要技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种绝对定位传感器检测系统，该绝对定位传感器检测系统能够准确高效地对磁浮列车绝对定位传感器功能、性能和可靠性进行检测。

为解决上述技术问题，本发明提供一种绝对定位传感器检测系统，其包括测试线圈、上位机以及，与所述测试线圈相连的测试线圈驱动单元；其中，

所述测试线圈，用于模拟电感变化；

所述测试线圈驱动单元，用于驱动所述测试线圈通断；

所述上位机，用于处理绝对定位传感器的信号。

可选的，所述测试线圈驱动单元为移位寄存器。

可选的，所述测试线圈驱动单元为可控逻辑阵列。

可选的，所述可控逻辑阵列为模拟开关阵列和/或FPGA。

可选的，所述上位机还与所述测试线圈驱动单元相连接，用于设置所述测试线圈通断频率和顺序，实现传感器检测的闭环控制。

本发明的另一方案提供一种绝对定位传感器检测系统，其包括测试线圈、上位机、与所述上位机相连的绝对定位传感器以及，与所述测试线圈相连的测试线圈驱动单元；其中，

所述测试线圈，用于模拟电感变化；

所述测试线圈驱动单元，用于驱动所述测试线圈通断；

所述绝对定位传感器，用于检测所述测试线圈通断所引起的电感的改变；

所述上位机，用于处理所述绝对定位传感器的信号。

可选的，所述绝对定位传感器为U型槽结构，所述U型槽结构的两端分别为传感器发射线圈及传感器接收线圈。

可选的，所述测试线圈驱动单元与测试线圈设于所述U型槽结构的中部，且与所述传感器发射线圈及所述传感器接收线圈平行。