[发明专利]一种单端口传输芯片的测试方法及系统

权利要求书

1.一种单端口传输芯片的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

测试主机获取芯片的单端口数据传输控制权；

通过单端口对芯片内部待测模块进行测试配置；

根据测试配置读取待测模块的测试数据，并将读取到的测试数据通过单端口发送给测试主机。

2.根据权利要求1所述的一种单端口传输芯片的测试方法，其特征在于，所述通过单端口对芯片内部待测模块进行测试配置的步骤，具体包括以下步骤：

通过单端口串行总线输入相应待测模块寄存器地址；

对寄存器地址进行处理；

输入写控制命令；

根据控制命令以及寄存器地址将控制数据写入相应待测模块中。

3.根据权利要求2所述的一种单端口传输芯片的测试方法，其特征在于，所述对寄存器地址进行处理的步骤，具体包括以下步骤：

异步处理；

异步处理后进行串并转换处理。

4.根据权利要求1所述的一种单端口传输芯片的测试方法，其特征在于，所述根据测试配置读取待测模块的测试数据，并将读取到的测试数据通过单端口发送给测试主机的步骤，具体包括以下步骤：

进行芯片内部总线读操作；

测试主机释放单端口数据传输控制权；

芯片获取单端口传输控制权；

读取待测模块寄存器中的数据。

5.一种单端口传输芯片的测试系统，其特征在于，所述系统包括获取单元、配置单元以及读取单元；

所述获取单元，用于测试主机获取芯片的单端口数据传输控制权；

所述配置单元，用于通过单端口对芯片内部待测模块进行测试配置；

所述读取单元，用于根据测试配置读取待测模块的测试数据，并将读取到的测试数据通过单端口发送给测试主机。

6.根据权利要求5所述的一种单端口传输芯片的测试系统，其特征在于，所述配置单元包括输入模块、处理模块、命令模块以及写入模块；

所述输入模块，用于通过单端口串行总线输入相应待测模块寄存器地址；

所述处理模块，用于对寄存器地址进行处理；

所述命令模块，用于输入写控制命令；

所述写入模块，用于根据控制命令以及寄存器地址将控制数据写入相应待测模块中。

7.根据权利要求6所述的一种单端口传输芯片的测试系统，其特征在于，所述处理模块包括异步子模块以及串并转换子模块；

所述异步子模块，用于异步处理；

所述串并转换子模块，用于异步处理后进行串并转换处理。

8.根据权利要求5所述的一种单端口传输芯片的测试系统，其特征在于，所述读取单元包括读模块、释放模块、获得模块以及读取模块；

所述读模块，用于进行芯片内部总线读操作；

所述释放模块，用于测试主机释放单端口数据传输控制权；

所述获得模块，用于芯片获取单端口传输控制权；

所述读取模块，用于读取待测模块寄存器中的数据。