[发明专利]盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备

说明书

本发明公开了一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备，其方法包括：从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；重复以上步骤直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。采用该技术方案能够完成盆式绝缘子等大面积不规则形状结构表面电荷的快速测量。

技术领域

本发明涉及高电压设备、绝缘材料和静电测量技术领域，具体而言，涉及一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备。

背景技术

绝缘材料表面电荷的测量属于静电测量的范畴，不能用传统的电工仪表进行测量。目前，表面电荷的测量方法主要包括粉尘图法，基于Pockels效应的光学测量方法和静电探头法。粉尘图法最初由Lichtenberg于1778年提出，其原理是利用某些带电的有色固体(如带正电的红色的Pb3O4，带负电的白黄色的S)，会与绝缘子表面的电荷发生吸附效应，比如负电荷会吸附带正电的Pb3O4，正电荷会吸附带负电的S。当将这些特殊的固体粉末喷洒在介质表面时，可以根据介质表面的这些固体粉末的颜色分布来判断介质表面的电荷极性及电荷分布。其优点是方便、直观，缺点是不能定量表征表面电荷，且在喷洒粉尘过程中，可能改变介质表面的电荷分布。Pockels效应光学测量方法即线性电光效应法，对于不具有对称中心的晶体来说，当其处在电场中时，其折射率的变化与所加的电场强度成正比关系，即在电场不太强时已经表现得比较明显,因而可以通过测量电场作用下晶体折射率的变化来反映电场的变化，但此方法只适用于透明薄膜，对盆式绝缘子固体表面并不适合。

GIS盆式绝缘子表面为不规则形状，包括弧面部分与斜面部分，需设置两个探头进行表面电荷的测量。盆式绝缘子表面积较大，如果进行逐一电荷测量，短时间内难以完成，而表面电荷在长时间测量过程中的电荷消散亦会对测量结果的准确性带来影响。

综上所述，对GIS盆式绝缘子等大面积不规则形状来说，亟待提出一种表面电荷的快速测量方法，降低表面电荷的测量时间，减小电荷消散对于表面电荷测量结果准确性的影响。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供盆式绝缘子表面电荷快速测量方法及装置，能够完成盆式绝缘子等大面积不规则形状结构表面电荷的快速测量。

本发明实施例提供的盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，包括：

从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；

从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；

当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；

定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；

在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测量；

当完成所述路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；循环操作直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。

可选地，所述弧面部分及斜面部分的起始测量点为弧面部分和斜面部分距离高压电极最远的测量点。

可选地，所述弧面探头与斜面探头之间相对位置为180°。

可选地，所述斜面探头与弧面探头沿绝缘子径向方向运动为分时运动，沿绝缘子表面圆周方向运动预设角度为同时运动。