[发明专利]一种非接触智能卡读卡终端及其工作方法在审
申请号: | 201811150685.2 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN109325375A | 公开(公告)日: | 2019-02-12 |
发明(设计)人: | 陆舟;于华章 | 申请(专利权)人: | 飞天诚信科技股份有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00;G06K7/08 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 场强 读卡终端 测试 非接触智能卡 电容组 配置 场强测试 读卡性能 电子产品领域 器件误差 保存 记录 | ||
1.一种非接触智能卡读卡终端的工作方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1:读卡终端通过配置电容组的组合进行场强测试,记录所有通过配置电容组的组合进行场强测试得到的测试场强和与得到的所有测试场强分别相对应的配置值;从所有测试场强中选择出最大测试场强;
步骤S2:所述读卡终端保存与所述最大测试场强相对应的配置值或者配置与所述最大测试场强相对应的电容组的组合。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S1中,所述配置电容组的组合,具体为:所述读卡终端根据配置值控制电容组的组合的连通与断开;
所述步骤S2中,所述配置与所述最大测试场强相对应的电容组的组合,具体为:所述读卡终端根据与所述最大测试场强对应的配置值控制电容组的组合的连通与断开。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述读卡终端仅包括第一电容组;
所述步骤S1具体包括:
步骤A1:所述读卡终端控制第一电容组的断开,进行场强测试得到第零测试场强,记录所述第零测试场强和与所述第零测试场强相应对的配置值;
步骤A2:所述读卡终端控制所述第一电容组的连通,进行场强测试得到第一测试场强,记录所述第一测试场强和与所述第一测试场强相应对的配置值;
步骤A3:所述读卡终端比较所述第零测试场强和所述第一测试场强的大小,当所述第一测试场强大于所述第零测试场强时,所述第一测试场强是最大测试场强,执行步骤S2;当所述第零测试场强大于或者等于所述第一测试场强时,所述第零测试场强是最大测试场强,执行步骤S2。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述读卡终端包括第一电容组和第二电容组;
所述步骤S1具体包括以下步骤:
步骤B1:所述读卡终端控制所述第一电容组和所述第二电容组的断开,进行场强测试得到第零测试场强,记录所述第零测试场强和与所述第零测试场强相应对的配置值;
步骤B2:所述读卡终端控制所述第一电容组的连通,进行场强测试得到第一测试场强,记录所述第一测试场强和与所述第一测试场强相应对的配置值;
步骤B3:所述读卡终端控制所述第一电容组的断开和所述第二电容组的连通,进行场强测试得到第二测试场强,记录所述第二测试场强和与所述第二测试场强相应对的配置值;
步骤B4:所述读卡终端控制所述第一电容组的连通,进行场强测试得到第三测试场强,记录所述第三测试场强和与所述第三测试场强相应对的配置值;
步骤B5:所述读卡终端比较所述第零测试场强、所述第一测试场强、所述第二测试场强和所述第三测试场强的大小,从所述第零测试场强、所述第一测试场强、所述第二测试场强和所述第三测试场强中选择出最大测试场强,执行步骤S2。
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