[发明专利]可实现循环定时测试的电路

说明书

本发明涉及一种可实现循环定时测试的电路，用于与待测元件和外部电源构成的电路串联，构成测试待测元件在设定电压时可用性的电路，包括：电源模块和控制电路模块；电源模块包括供电机构，供电机构用于给控制电路模块提供电源；控制电路模块包括控制电路和检测电路，检测电路包括MOS管电路和待测元件，MOS管电路与待测元件的正极相连，待测元件的负极与供电机构的负极相连构成回路；控制电路控制通过供电机构持续控制MOS管通断，完成对待测元件的可用性测试；检测电路将检测信息传递给控制电路，控制电路记录和显示检测信息。本发明的有益效果：通过主控IC控制MOS管的通断进而控制检测电路的通断，实现了对待测元件安全的进行反复的测试。

技术领域

本发明涉及一种测试方案，尤其涉及一种可实现循环定时测试的电路。

背景技术

电子元器件在生产过程中，会出现一些次品，这些次品如果不加以测试直接应用于产品，会造成一定的事故，因此需要对电子元器件进行验证，在验证许多电子元器件时，测试某些性能参数，例如：Breaker的设定使用电压、设定遮短电流、FUSE的断流测试、精密电阻的负载寿命等，往往需要重复测试上百甚至上千次，测试周期长，且有些要求每次间隔达到毫秒（ms）级别。目前这些测试验证都是通过手工进行的，手法都不规范，且效率低，无法满足测试要求。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种可实现循环测试的电路，便于安全反复的对待测元件进行测试。

为了达到上述目的，本发明提出了如下的技术方案：

一种可实现循环定时测试的电路，用于与待测元件和外部电源构成的电路串联，构成测试所述待测元件在设定电压时可用性的电路，其特征在于，包括：电源模块和控制电路模块；

所述电源模块包括供电机构，所述供电机构用于给所述控制电路模块提供电源；

所述控制电路模块包括控制电路和检测电路，所述控制电路与所述供电机构的正极相连后再与所述检测电路连接，所述供电机构受控于所述控制电路；

所述检测电路包括MOS管电路，所述MOS管电路包括多个相同的MOS管支路，多个所述MOS管支路并联连接；所述MOS管支路包括一个MOS管、第一电阻和第二电阻，所述第一电阻的一端与所述控制电路连接，另一端分别连接第二电阻和所述MOS管的G极，所述第二电阻的另一端连接所述MOS管的S极，所述MOS管的D极与所述待测元件的正极相连，所述待测元件的负极与所述供电机构的负极相连构成回路；

所述控制电路控制通过所述供电机构持续控制所述MOS管通断，所述MOS管每通断一次，即完成一次对所述待测元件的可用性测试；

所述检测电路将检测信息传递给所述控制电路，所述控制电路记录和显示所述检测信息。

进一步地，所述控制电路包括主控IC，所述主控IC用于控制所述控制电路模块。

进一步地，所述控制电路还包括三极管电路，所述三极管电路包括PNP型三极管和NPN型三极管，所述PNP型三极管与所述NPN型三极管串联连接，所述PNP型三极管的b极连接所述主控IC，所述PNP型三级管的c极与所述NPN型三极管的b极连接，所述NPN型三极管的e极端连接供电机构，所述NPN型三极管的c极连接所述检测电路。

进一步地，所述控制电路还包括第一MOS管电路，所述第一MOS管电路包括第一MOS管、第三电阻和第四电阻，所述第一MOS管的D极与所述NPN型三极管的c极连接，所述第三电阻与所述主控IC端连接后分别连接第四电阻和所述第一MOS管的G极，所述第四电阻的另一端连接所述第一MOS管的S极和所述MOS管的S极。

进一步地，所述控制电路模块还包括串口，所述串口与所述主控IC连接，所述串口连接终端，所述终端通过所述串口修改所述主控IC的系统参数。