[发明专利]一种基于偏微分方程的MALDI质谱峰检测方法有效
申请号: | 201811031626.3 | 申请日: | 2018-09-05 |
公开(公告)号: | CN109271913B | 公开(公告)日: | 2022-03-29 |
发明(设计)人: | 李远禄;李俊;赵伟静;蒋民;周慧敏;孙双龙 | 申请(专利权)人: | 南京信息工程大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G01N27/626 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 210044 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 微分方程 maldi 质谱峰 检测 方法 | ||
本发明公开了一种基于偏微分方程的MALDI质谱峰检测方法,该方法先对MALDI质谱信号做基线校正,接着用导数谱方法增强信号,然后用时间‑空间分数阶扩散方程求解去噪得到最终的平滑后的MALDI质谱信号,最后选择幅度阈值和局部极大值法做峰识别得到MALDI谱峰列表,具有更好的保峰去噪效果,使用便捷。
技术领域
本发明涉及一种质谱峰检测方法,尤其涉及一种基于偏微分方程的MALDI质谱峰检测方法。
背景技术
MALDI质谱(基质辅助激光解吸电离质谱)峰检测是谱峰信号处理中的重要环节,谱峰检测的结果会对信号的后续分析产生影响。由于实验环境和仪器分辨水平等因素的影响,一些低振幅的谱峰和重叠的谱峰可能被噪声掩埋,化学、电离和电子噪声等往往会导致曲线下降,使谱峰信号产生基线漂移。
近年来,随着计算机和信息技术的迅猛发展,信号处理技术应运而生并且得到了迅速发展,多种信号处理模型相继被用到MALDI质谱峰检测中,实现了谱峰信号的基线校正和平滑,并较准确地检测出质谱中峰的位置,传统方法包括PROCESS法、LMS法、LIMPIC法、Cromwell法和CWT法。
对于已经提出的模型,可以用一个通用步骤分解,如图1所示,步骤分为三步:基线校正,平滑和峰识别,其中,基线校正和平滑顺序可以调换。这样的步骤分解可以更好地阐明不同谱峰检测模型的基本原理,更重要的是,它可以清楚地比较现有谱峰检测模型之间的异同。
基线校正包括最小二乘拟合法、三次样条插值法和小波变换法;常用峰识别方法包括幅值法、一阶导数法、二阶导数法和局部极大值法。
平滑是谱峰检测中最重要的一个步骤,最简单的平滑方法是滑动均值滤波,即将相邻的奇数个点求平均值代替原中心点;Savitzky-Golay滤波目前被广泛使用,该方法是一种广义的滑动均值滤波方法,它将一小组连续数据点做最小二乘拟合,并将多项式拟合曲线的中心点作为输出,相比于滑动均值滤波法,该方法具有更好的保峰效果,然而去噪效果不够好;高斯滤波是对滑动均值滤波平滑窗口的改进方法,使用高斯函数作为平滑窗口,类似的,Kaiser提出了Kaiser滤波,使用Kaiser窗作为平滑窗口,这两种方法效率较高,然而其对峰的保护效果不强。频谱分析是信号平滑中的另一类方法,这类方法需要先将信号转换到频域,再对其作频谱分析。小波方法是目前最常用的频谱分析方法,该方法可以较好的保护信号特征,然而选择不同的小波基和尺度,信号处理的结果也会大相径庭。
在MALDI质谱的平滑方法上,传统方法都有一定的缺陷。因此,如何进一步提高平滑效果是MALDI质谱峰检测中的一个重要问题。
发明内容
发明目的:针对背景技术中所提到的对于MALDI质谱现有平滑方法的不足,本发明提出一种基于偏微分方程的新的平滑模型,在去噪的同时,进一步保护峰的特征。
技术方案:为实现本发明的目的,本发明所采用的技术方案是:一种基于偏微分方程的MALDI质谱峰检测方法,包括步骤:
(1)输入待处理的MALDI质谱信号,并对MALDI质谱做基线校正;
(2)对校正后的信号f(x)使用导数谱方法作增强,将增强后的噪声信号作为分数阶扩散模型的初始信号u(x,0),经扩散后得到增强后的信号。由此得到时间-空间分数阶扩散导数谱模型,该模型如下公式(1)所示:
其中,x是空间长度,t是时间长度,c是增强系数,g[u(x,t)]是扩散函数,
λ是控制扩散强度的阈值,其取值范围为500-2000,α表示时间分数阶次,β表示空间分数阶次。设τ和h分别为时间和空间步长,k和i分别为时间和空间序列,则有
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