[发明专利]固态硬盘的生产方法及固态硬盘

说明书

本申请提出一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘，涉及固态硬盘技术领域。颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测信息，并对坏块检测信息进行记录；贴片机将主控芯片以及坏块检测信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件；开卡设备获取固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测信息，并将每个合格闪存颗粒的坏块检测信息以及预设的运行程序写入固态硬盘组件，以对固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。本申请通过在固态硬盘组件的开卡阶段直接将闪存颗粒的坏块检测环节记录的坏块检测信息写入固态硬盘组件，而省略掉盘片的可靠性测试步骤或减少可靠性测试时间，故节约了生产时间，提升了生产效率，节约人力成本。

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域，具体而言，涉及一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘。

背景技术

目前，固态硬盘(Solid State Drives，SSD)的生产厂家通常按照图1所示的流程进行固态硬盘的批量生产，即生产厂家首先需要采购颗粒，然后对每个颗粒进行高温筛选，保留品质优良的颗粒进行后续生产；筛选出的品质优良的颗粒经过贴片生产、盘片可靠性测试(Reliabilit Demonstration Test，RDT)、开卡、成品验证、二次开卡等流程后，便可以出货进行销售。在固态硬盘的整个生产流程中，颗粒的筛选是至关重要的一个环节，颗粒的筛选和盘片的可靠性测试均需要使用高温环境，通常耗时也比较长，盘片的颗粒筛选约占用整个生产流程30％的时间。现有的固态硬盘的生产方法，生产时间比较长，生产效率不高。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种固态硬盘的生产方法及固态硬盘，以节省固态硬盘的生产时间，提高生产效率。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提出一种固态硬盘的生产方法，所述方法包括：

颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测结果信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测结果信息进行记录；

贴片机将主控芯片以及所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；

开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

第二方面，本发明实施例还提出一种固态硬盘，采用上述第一方面所述的固态硬盘的生产方法制成。

相对现有技术，本发明实施例具有以下有益效果：

本发明实施例提供的固态硬盘的生产方法及固态硬盘，所述方法包括：颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测结果信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测结果信息进行记录；贴片机将主控芯片以及所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。在本申请中，在闪存颗粒的坏块检测环节通过对闪存颗粒的坏块检测结果信息进行记录，在固态硬盘组件的开卡阶段直接将之前记录的坏块检测结果信息写入到固态硬盘组件中，从而省略掉盘片的可靠性测试步骤或者减少可靠性测试的时间，进而大大节约了生产时间，特别是在大规模批量生产固态硬盘时，可以有效提升生产效率，节约人力成本。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明