[发明专利]固态硬盘的生产方法及固态硬盘

权利要求书

1.一种固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述方法包括：

颗粒检测设备对闪存颗粒进行坏块检测，得到坏块检测结果信息，并对所述闪存颗粒的坏块检测结果信息进行记录；

贴片机将主控芯片以及所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件，其中，所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒为合格闪存颗粒；

开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘。

2.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述对闪存颗粒的坏块检测结果信息进行记录的步骤包括：

将所述闪存颗粒的坏块检测结果信息保存为设定格式的配置文件；

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤包括：

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的配置文件，并将所述每个合格闪存颗粒对应的配置文件以及所述预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件。

3.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测结果信息包括坏块区域，所述贴片机将主控芯片以及所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件的步骤之后，所述方法还包括：

可靠性测试设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并根据所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息对所述每个合格闪存颗粒上的除所述坏块区域之外的区域再次进行坏块检测，得到所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测结果信息；

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件的步骤还包括：

所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒对应的新坏块检测结果信息写入到所述固态硬盘组件。

4.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测结果信息包括坏块数量，所述贴片机将主控芯片以及所述坏块检测结果信息符合预设条件的闪存颗粒贴装到印制电路板上，得到固态硬盘组件的步骤包括：

所述贴片机将主控芯片以及所述坏块数量小于或等于预设值的闪存颗粒贴装到所述印制电路板上，得到所述固态硬盘组件，其中，所述坏块数量小于或等于预设值的闪存颗粒为所述合格闪存颗粒。

5.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述坏块检测结果信息包括坏块区域，所述主控芯片在向所述固态硬盘中的闪存颗粒写数据时，根据所述坏块检测结果信息将所述数据写入所述闪存颗粒上除所述坏块区域之外的可用区域。

6.如权利要求1所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述开卡设备获取所述固态硬盘组件上的每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息，并将所述每个合格闪存颗粒的坏块检测结果信息以及预设的运行程序写入到所述固态硬盘组件，以对所述固态硬盘组件开卡得到固态硬盘的步骤之后，所述方法还包括：

固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试，以判断所述固态硬盘是否为合格产品，其中，所述性能测试包括读写功能测试、掉电测试、系统休眠测试、老化测试及兼容性测试；

当判断所述固态硬盘为合格产品时，所述开卡设备对所述固态硬盘再次进行开卡操作。

7.如权利要求6所述的固态硬盘的生产方法，其特征在于，所述固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试，以判断所述固态硬盘是否为合格产品的步骤包括：

所述固态硬盘测试设备对所述固态硬盘进行性能测试并获得测试数据，通过对所述测试数据与设定的参考数据进行比较来判断所述固态硬盘是否为合格产品。