[发明专利]阵列基板、液晶模组及液晶显示设备

说明书

本公开提供一种阵列基板、一种液晶模组及一种液晶显示设备。该阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；非显示区域环绕包围显示区域且与显示区域邻接；测试垫位于非显示区域内且远离显示区域设置，每一个测试垫组对应一个显示区域，测试垫组包括数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；数据线测试垫用于连接液晶模组的数据线，扫描线测试垫用于连接液晶模组的扫描线，第一公共电极测试垫用于连接液晶模组的第一公共电极，第二公共电极测试垫用于连接液晶模组的第二公共电极。本公开实施例提供的阵列基板能够提高点灯测试效率。

技术领域

本公开涉及液晶设备制造领域，尤其涉及一种阵列基板、液晶模组及液晶显示设备。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)作为一种平面超薄的显示设备，具备功耗低、高画质、体积小、重量轻的特点，成为显示器的主流。液晶显示器的类型大多是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，而一般薄膜晶体管液晶显示器的制作可大致分为三部分:薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程以及彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程、液晶显示模块(Liquid CrystalModule，LCM)制备过程。

液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(Cell Test)，确认液晶盒是否存在缺陷。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。在范例性的技术中，点灯测试一般采用以2条数据线(Data Line)和1条栅极线(Gate Line)组成的若干单元的连接方式(2D1G方式)，或者以3条数据线和2条栅极组成的若干单元的连接方式(3D2G方式)，再将数据信号和扫描信号分别接入到液晶面板的像素单元中，以检测液晶面板的像素点是否存在不良。然而，上述方式将导致相邻的两数据线之间存在同种极性的现象，增加误判几率且连接方式复杂，从而影响了测试效率。

发明内容

本公开的实施例提供一种阵列基板、一种液晶模组及一种液晶显示设备，以解决影响液晶面板测试效率较低的问题。

本公开提供了一种阵列基板，包括：

显示区域，所述显示区域包括多条数据线、多条扫描线和一个第二公共电极；

非显示区域，环绕所述显示区域且与所述显示区域邻接；

测试垫组，位于所述非显示区域内且与所述显示区域间隔设置，所述测试垫组包括多个数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；

其中，所述数据线测试垫电性连接所述阵列基板上的数据线，所述扫描线测试垫电性连接所述阵列基板上的扫描线，所述第一公共电极测试垫用于电性连接第一公共电极，所述第二公共电极测试垫电性连接所述第二公共电极。

在本公开的一个实施例中，所述第一公共电极位于所述显示区域，且与所述第一公共电极测试垫电性连接。

在本公开的一个实施例中，所述扫描线测试垫的数量为四个，分别对应连接四条扫描线。

在本公开的一个实施例中，所述数据线测试垫包括奇数测试垫和偶数测试垫，所述奇数测试垫用于连接所述显示区域内的奇数列数据线，所述偶数测试垫用于连接所述显示区域内的偶数列数据线。

本公开提供了一种液晶模组，包括：

彩膜基板；

阵列基板，与所述彩膜基板相对设置；

液晶层，设置在所述彩膜基板与所述阵列基板之间；

其中，所述阵列基板包括：